[发明专利]片式钽电容器及其阴极二氧化锰层质量控制方法有效
| 申请号: | 201911091011.4 | 申请日: | 2019-11-09 |
| 公开(公告)号: | CN111007078B | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
| 发明(设计)人: | 李娟;李春;朱敏尉;刘楠;张辉;孔泽斌;张超;罗宇华;祝伟明;江芸;楼建设 | 申请(专利权)人: | 上海精密计量测试研究所 |
| 主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01N1/28;G01B21/00;G01B21/20;G01R31/12 |
| 代理公司: | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人: | 余岢 |
| 地址: | 201109 *** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 钽电容 及其 阴极 二氧化锰 质量 控制 方法 | ||
1.片式钽电容器阴极二氧化锰层质量控制方法,其特征在于,对样品进行剖面制样,再对制样剖面镜检;
剖面制样:将样品制成纵向剖面,该剖面剖切至发现拒收缺陷或至阳极钽丝点焊点为止;
剖面镜检:对阴极二氧化锰层质量进行检查,检查是否满足如下要求:
a)阴极二氧化锰层内无尺寸大于钽芯短边1/4的局部分层或空洞;
b)对于A壳或B壳尺寸产品,阴极二氧化锰层内尺寸小于钽芯短边1/4、大于钽芯短边1/6的局部分层或空洞的数量<4,且不集中在一边;
c)对于C壳及以上尺寸产品,阴极二氧化锰层内尺寸小于钽芯短边1/4、大于钽芯短边1/8的局部分层或空洞的数量<4,且不集中在一边;
所述片式钽电容器阴极二氧化锰层质量控制方法还包括在阴极二氧化锰层结构缺陷判别存在争议时,对本批次中已剔除产品进行化学去包封镜检,若化学去包封镜检发现已剔除产品失效具有规律性,则判定本批次产品不符合交付条件;若化学去包封镜检发现已剔除产品失效具有发散性,则从本批次合格产品中抽取5只进行极限浪涌击穿试验,分析极限失效情况,若失效具有规律性,则判定本批次产品不符合交付条件,若失效具有发散性,判定本批次产品符合交付条件。
2.如权利要求1所述的片式钽电容器阴极二氧化锰层质量控制方法,其特征在于,所述剖面镜检还包括对钽芯内部结构、阳极点焊质量和阴极引出端质量进行检查,检查是否存在GJB 4027A《军用电子元器件破坏性物理分析方法》工作项目0208方法中2.3条中规定的缺陷。
3.如权利要求1所述的片式钽电容器阴极二氧化锰层质量控制方法,其特征在于,所述剖面制样中,采用手工研磨时研磨方向应顺着样品轴向方向进行,以最大限度避免因研磨机械应力引起的分层;研磨原则为先粗磨后细磨,越接近观察点研磨砂纸应越细,粗磨砂纸选择600目~800目,细磨砂纸选择1000目~2000目,转速为300~500转/min。
4.片式钽电容器质量控制方法,其特征在于,包括权利要求1至3中任一权利要求所述的片式钽电容器阴极二氧化锰层质量控制方法。
5.如权利要求4所述的片式钽电容器质量控制方法,其特征在于,还包括化学去包封及化学去包封镜检;
化学去包封:利用化学试剂去除模压包封料及阴极引出层,露出阳极钽芯表面的彩色介质氧化膜;
化学去包封镜检:对钽芯的结构、压制和介质氧化膜质量进行检查,质量要求如下:
a)钽芯的形状尺寸应符合设计文件要求;
b)钽芯无翘曲、变形、裂纹和缺块,无棱边毛刺,且表面平整;
c)钽芯表面彩色介质氧化膜颜色与标准色卡及以往批次对比,无异常;彩色介质氧化膜颜色无规律性不均匀,彩色介质氧化膜晶化区域无规律性局部集中;
d)钽芯裸露钽丝表面的,钽丝表面覆有彩色介质氧化膜。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海精密计量测试研究所,未经上海精密计量测试研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911091011.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种路堑过渡段组合式连接装置
- 下一篇:一种信号补偿校准方法及系统





