[发明专利]Dubal BIOS的测试方法、测试装置及测试系统

说明书

本发明公开了一种Dubal BIOS的测试方法，在对主BIOS进行测试后，对主BIOS对应的信号链路进行注错，在判断设备系统已切换至副BIOS后，再对副BIOS进行测试。相较于现有技术中只能从主BIOS、副BIOS的电气电路和外观层面进行测试，本发明提供的方案能够模拟主BIOS故障的情况，从而实现了对主BIOS本身、对副BIOS以及对Dubal BIOS切换机制的完整测试。本发明还公开了一种Dubal BIOS的测试装置、测试系统及计算机可读存储介质，具有上述有益效果。

技术领域

本发明涉及服务器测试技术领域，特别是涉及一种Dubal BIOS的测试方法、测试装置、测试系统及计算机可读存储介质。

背景技术

随着服务器可靠性、可用性要求的逐渐提升，Dubal BIOS技术的应用越来越广泛。由于Dubal BIOS技术中采用了2个Flash ROM用于存放BIOS镜像，其默认设置自主BIOS(Primary BIOS)启动，仅在主BIOS出现损坏无法读取时才切换至副BIOS(Secondary BIOS)启动。

由于Dubal BIOS技术尚未普及，有关Dubal BIOS功能的工厂生产测试环节并无成熟的方法对Dubal BIOS功能进行完整的测试，目前仅在ICT、AOI等电气和外观层面进行检测，造成板载损坏掉的副BIOS流向市场的隐患。

提供一种能够对Dubal BIOS功能进行完整的测试的方法，是本领域技术人员需要解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种Dubal BIOS的测试方法、测试装置、测试系统及计算机可读存储介质，用于实现对Dubal BIOS功能的完整的测试。

为解决上述技术问题，本发明提供一种Dubal BIOS的测试方法，包括：

对主BIOS进行测试后，对所述主BIOS对应的信号链路进行注错；

判断设备系统是否切换至副BIOS；

如果是，则对所述副BIOS进行测试。

可选的，所述对所述主BIOS对应的信号链路进行注错，具体为：

应用注错仪对所述主BIOS对应的信号链路进行有源注错。

可选的，所述注错仪具体为小型功率发生仪。

可选的，所述对所述主BIOS对应的信号链路进行注错，具体为：

将所述主BIOS对应的信号链路短接到地。

可选的，所述判断设备系统是否切换至副BIOS，具体为：

判断所述设备系统是否触发重启；

如果是，则所述设备系统已切换至所述副BIOS；

如果否，则所述设备系统未切换至所述副BIOS。

可选的，所述对主BIOS进行测试，具体包括：

判断所述设备系统是否能通过所述主BIOS正常开机；

如果能通过所述主BIOS正常开机，则所述主BIOS测试通过；

如果不能通过所述主BIOS正常开机，则所述主BIOS测试不通过；

相应的，所述对所述副BIOS进行测试，具体为：

判断所述设备系统是否能通过所述副BIOS正常开机；

如果能通过所述副BIOS正常开机，则所述副BIOS测试通过；

如果不能通过所述副BIOS正常开机，则所述副BIOS测试不通过。