[发明专利]一种基于仿真的多应力加速寿命试验方案优化方法有效
申请号: | 201911088385.0 | 申请日: | 2019-11-08 |
公开(公告)号: | CN110826234B | 公开(公告)日: | 2022-11-29 |
发明(设计)人: | 韩慧超;栾家辉;石士进;朱兴高;米海波;代永德;王诏宣 | 申请(专利权)人: | 中国航天标准化研究所 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F119/02;G06F111/06;G06F119/08;G06F119/04;G06F119/14 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 温子云;郭德忠 |
地址: | 100071*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 仿真 应力 加速 寿命 试验 方案 优化 方法 | ||
1.一种基于仿真的多应力加速寿命试验方案优化方法,其特征在于,具体包括以下步骤:
步骤1、试验方案i中选择多个待测产品作为测试样本,所述待测产品的可靠度服从韦伯分布,所述待测产品的待测性能随试验时间单调退化,其中,i为正整数,i≤I,I为试验方案的总个数;
根据初始试验温度及初始试验电压计算得到加速因子AF,根据AF、可靠度下限RL和置信度γ计算得到最小测试时间tmin,再由tmin和tu_i计算得到测试次数的最小值lmin;
令当前测试次数为k,k=lmin,当前测试温度为初始试验温度;当前测试电压为初始试验电压;
步骤2、遍历所有测试样本,得到每个测试样本的所述待测性能的退化量,将退化量大于设定的最大退化量的测试样本的数量作为失效次数;
步骤3、采用所述失效次数、所述当前测试次数k及设定的测试间隔tu_i,计算当前应力条件下所述待测产品的可靠度下限Ri_k;
Ri_k大于或等于设定的可靠度下限,且当前应力条件下的所述待测产品的测试经费小于或等于设定的预算,则将当前测试记录为有效测试;否则,不记录;
步骤4、令k自加1,多次改变所述当前测试温度和当前测试电压,并执行步骤2,得到多个有效测试;
步骤5、对于所有的有效测试,计算可靠度下限Ri_k的均方差值MSEi,及测试经费TCi_k对于所述当前测试次数k的平均值TCi,根据所述MSEi和TCi计算得到所述试验方案i的优化目标Ui;
步骤6、执行所有试验方案得到每个试验方案的优化目标Ui,优化目标的取值最小的试验方案即为最佳试验方案。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述优化目标的计算公式如下:
其中,wss为设定的权重系数,MSE0、TC0分别为按照1:1的寿命试验得到的基准可靠度估计精度和基准试验费用。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤4为:令k自加1,所述当前测试温度和当前测试电压增加设定的步长,若所述当前测试温度和当前测试电压均小于设定的最大值,则执行所述步骤2;若所述当前测试温度和当前测试电压中的任意一项大于或等于设定的最大值,则执行所述步骤5。
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