[发明专利]一种PCB测试方法及装置在审

专利信息
申请号: 201911088355.X 申请日: 2019-11-08
公开(公告)号: CN110907801A 公开(公告)日: 2020-03-24
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 惠州拓邦电气技术有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳盛德大业知识产权代理事务所(普通合伙) 44333 代理人: 贾振勇
地址: 516000 广东省惠州市仲恺高*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 pcb 测试 方法 装置
【说明书】:

发明适用于电子技术领域,提供了一种PCB测试方法及装置,PCB测试方法应用于PCB的测试装置,所述PCB的测试装置包括机械臂,所述机械臂用于通过按压PCB上的按键测试PCB,所述方法包括如下步骤:获取当前待测试PCB的测试移动轨迹;控制所述机械臂沿所述测试移动轨迹在所述当前待测试PCB上移动;接收所述当前待测试PCB反馈的测试状态信息;根据所述测试状态信息,获取所述当前待测试PCB的测试结果。本发明利用测试装置中的机械臂代替人工按压PCB中的按键,按键的按压更为准确,同时提高了PCB测试的准确率和效率。

技术领域

本发明涉及电子技术领域,尤其涉及一种PCB测试方法及装置。

背景技术

电子锁是电子密码锁是一种通过密码输入来控制电路或是芯片工作(访问控制系统),从而控制机械开关的闭合,完成开锁、闭锁任务的电子产品。由于电子锁使用便利,无需给配置实体钥匙,越来越被人们青睐。

电子锁的上锁、开锁的程序以及开锁电路集成在电子锁的PCB中,为了保证用户在使用电子锁时,电子锁不会出现输入正确密码而无法打开的现象发生。生产商在电子锁出厂前对电子锁的PCB进行合格测试。

现有的电子锁PCB测试方法为人工重复输入密码,查看解锁情况,根据解锁情况判断电子锁是否合格。由于,工厂中批量生产电子锁,产品产量大,采用人工手动输入密码的方式检测不仅速度慢,还容易出现输错现象,从而导致现有电子锁PCB测试的检测速度慢、准确率低的问题。

发明内容

本发明实施例提供一种PCB测试方法及装置,旨在解决电子锁PCB测试的检测速度慢、准确率低的问题。

本发明实施例是这样实现的,一种PCB测试方法,所述PCB测试方法应用于PCB的测试装置,所述PCB的测试装置包括机械臂,所述机械臂用于通过按压PCB上的按键测试PCB,所述方法包括如下步骤:

获取当前待测试PCB的测试移动轨迹;

控制所述机械臂沿所述测试移动轨迹在所述当前待测试PCB上移动;

接收所述当前待测试PCB反馈的测试状态信息;

根据所述测试状态信息,获取所述当前待测试PCB的测试结果。

更进一步的,所述PCB的测试装置还包括标签识别单元;

所述标签识别单元用于识别PCB上的标签;

所述获取当前待测试PCB测试移动轨迹的步骤包括:

获取所述标签识别单元识别到的所述当前待测试PCB的标签;

确定所述当前待测试PCB的标签的标签类型;

将所存储的与所述标签类型对应的测试移动轨迹作为所述当前待测试PCB的测试移动轨迹。

更进一步的,所述PCB包括开锁单元和/或语音输出单元;

所述测试状态信息包括所述开锁单元的状态信息和/或所述语音输出单元的语音提示信息中的至少一个。

更进一步的,所述PCB的测试装置还包括电流检测单元;

所述电流检测单元用于检测所述当前待测试PCB的电流;

所述根据所述测试状态信息,获取所述当前待测试PCB的测试结果的步骤包括:

获取所述电流检测单元检测到的电流;

当所述电流小于预设阈值时,所述测试结果为所述当前待测试PCB的功耗测试通过。

更进一步的,所述根据所述测试状态信息,获取所述当前待测试PCB的测试结果的步骤还包括:

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