[发明专利]用于处理图像的方法

说明书

本发明涉及一种用于处理原始图像的方法，该原始图像由与成像器(1)的有源热辐射计B_pix_(i,j)相关联的原始测量S_p(i,j)表征，所述有源热辐射计以矩阵阵列布置，成像器(1)处于环境温度T_amb下并且还包括盲热辐射计B_b_(k)，该方法由配备有存储器的计算机(4)执行，该方法包括以下步骤：a)根据参考温度T_r下的有源热辐射计和盲热辐射计各自的电阻R_Tr(i,j)和R_Tr(k)分别计算它们在温度T_amb下的电阻R_Tamb(i,j)和R_Tamb(k)的步骤，所述电阻存储在存储器中；b)根据步骤a)中计算的电阻和根据原始测量S_p(i,j)来确定由每个有源热辐射计B_pix_(i,j)实际测量的温度T_sc(i,j)的步骤。

技术领域

本发明涉及一种用于处理由配备有热辐射计的矩阵阵列的成像器收集的原始图像的方法。具体地，根据本发明的处理方法旨在校正由于成像器的热辐射计的分散特性而导致的不均匀性。

本发明还涉及能够实施根据本发明的方法的所有步骤的计算机程序。

本发明最后涉及一种包括热辐射计的成像器和实施该计算机程序的计算机。

背景技术

现有技术中已知的红外探测器通常包括被组织成n行m列矩阵阵列的热辐射计。

当这些对场景温度敏感的热辐射计为了获取图像而暴露在场景中时，它们会感受到它们的电阻变化。换句话说，流经每个热辐射计的电流取决于场景的温度，也取决于环境温度。

具体地，对热辐射计的矩阵阵列中的热辐射计B_pix_(i,j)的测量S_p(i,j)根据以下关系而变化：

其中：

-T_amb是环境温度，尤其是成像器的温度；

-T_scene是热辐射计感受到的场景温度，

-Resp(T_amb)是热辐射计的响应度，该响应度取决于环境温度；

-S_0,Tamb是场景温度等于环境温度时由热辐射计输出的值。

术语Resp(T_amb)取决于用于制造热辐射计的材料以及热辐射计的结构。

场景温度的推导需要已知环境温度T_amb，因此成像器通常还配备有温度传感器。

成像器还可以配备有额外的热辐射计，称为盲热辐射计，它们不暴露在场景中。流经盲热辐射计的电流仅取决于环境温度。

因此，在这种配置中，暴露的热辐射计的电阻变化的确定是基于流经所述暴露的热辐射计和盲热辐射计的电流之间的差动测量。

通常，热辐射计的矩阵阵列的每一列与盲热辐射计相关联，该盲热辐射计在差动测量期间用于所述列的每一个热辐射计。然而，可以设想其他配置，特别是多列热辐射计使用单个公共的盲热辐射计。

用这种设备能够获得的场景的原始图像(图1)通常是不可利用的，并且需要额外的处理。

具体地，图1所示的图像揭示了探测器的热辐射计的布置，更具体地，揭示了不均匀性(“像素化效应”)。这种效应的根源在于从一个热辐射计到下一个热辐射计的电阻的大量分散。

图像还具有柱状外观，这是由于盲热辐射计之间电阻的分散。

为了缓解这些问题，已经设想了各种解决方案。