[发明专利]X射线CT装置在审

专利信息
申请号: 201911084443.2 申请日: 2019-11-08
公开(公告)号: CN110702709A 公开(公告)日: 2020-01-17
发明(设计)人: 隋凤丽;贺传宇;高景健 申请(专利权)人: 丹东奥龙射线仪器集团有限公司
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046
代理公司: 21207 沈阳杰克知识产权代理有限公司 代理人: 孙国瑞
地址: 118009 辽宁省*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 直线电机 固定端 大理石平台 直线电机运动 被测物 龙门式 运动端 大理石 底座 固定载物台 机械结构 机械转台 运动轨迹 转台 探测器 联动 载物 垂直
【说明书】:

一种X射线CT装置,底座上面放置大理石平台,X射线管固定在底座上,两个龙门式大理石架固定在大理石平台上方的两端,两个A直线电机的固定端安装在龙门式大理石架上面,B直线电机的固定端安装在A直线电机运动端上面,两个C直线电机的固定端安装在大理石平台垂直面上,C直线电机运动端的上面固定两个D直线电机的固定端,D直线电机的运动端上固定两个E直线电机的固定端,E直线电机的运动端上面固定载物台,被测物放置在载物台上。本装置用双圆联动代替机械转台,解决了机械结构精度难以达到要求的问题,克服了转台体积大成本高精度不够高的缺点。被测物和探测器在其平面内X方向和Y方向分别控制,完成相应运动轨迹更精准便捷迅速。

技术领域

发明涉及一种X射线CT装置,具体说涉及一种新型CL扫描方式的X射线CT装置。

背景技术

CL技术属于CT技术的一个分支,都是利用物体不同方位的高分辨率显微DR投影信息反算出物体内部材质射线衰减系数的空间分布。但是CL技术又有别于传统的CT技术,它采用射线倾斜扫描的三维数字层析方法,利用射线图像光电数字转换器在另一侧获取的二维数字投影序列,重构出扫描区的三维断层图像。利用层析出的断层图像,主要针对板状结构扫描重建。一方面实现对板状电子器件制造缺陷的空间定位,另一方面实现对器件电路图的复制,以指导CAD设计。需要被测物倾斜一定角度的情况下收集其所有信息,因为X射线成像的焦距尺寸很大,所以探测器运动轨迹直径就很大,采用传统转台实现运动对精度很难有保障。因为板状结构的被测物平面外形尺寸一般情况都很大,一个周期的扫描并不能获得全部所需的信息,需要对其分块检测,最终汇总拼接重建成像,以前那种环状采集会有很多的不必要的重复信息,还有一些位置的扫描甚至得到的是不完整的环,这样就给计算重建带来一定的难度。

发明内容

针对现有板状结构被测物内部质量检测方面存在的问题,本发明提供一种可代替机械转台,解决机械结构精度难以达到要求的X射线CT装置。

解决上述问题采取的具体技术措施是:

一种X射线CT装置,其特征是:底座1上面放置大理石平台2, X射线管10位于大理石平台2中间的镂空处固定在底座1上,两个龙门式大理石架3固定在大理石平台2上方的两端,两个A直线电机4的固定端安装在龙门式大理石架3的上面,B直线电机5的固定端安装在两个A直线电机4运动端的上面,两个C直线电机9的固定端安装在大理石平台2镂空处的垂直面上,两个C直线电机9运动端的上面固定两个D直线电机8的固定端,两个D直线电机8的运动端上固定两个E直线电机7的固定端,两个E直线电机7的运动端上面固定载物台14,被测物12放置在载物台14上,被测物12沿A轨迹13运动,平板探测器6沿B轨迹11运动,被测物12的中心和平板探测器6的中心始终在位于倾角为θ的光路上做一一对应双圆联动。

本发明的积极效果:本装置采用双圆联动的结构方式,代替机械转台,解决了转台机械结构精度很难达到要求的问题,克服了转台体积大、成本高、精度不够高的缺点。被测物和探测器分别在其平面内X方向和Y方向控制,完成相应运动轨迹更精准,便捷迅速。本装置的扫描方式可以做到局部分块扫描,这样只需要不断地以合适的距离变换旋转中心扫描,这样在边缘稍微叠加就能收集到全体的所需信息。相较以前那种环状采集减少很多的不必要的重复信息。这样就有效地节省时间提高效率。另外,被测物分别在其平面内X和Y方向的控制,其旋转中心是虚拟的,只需单纯改变其运动轨迹,就变换了旋转中心。没有多余的动作,更有效地节省时间,提高效率。

附图说明

图1为本发明的结构示意图;

图2为图1的俯视图;

图3为图1的右视图;

图4为本发明的运动示意图;

图5为本发明的程序控制示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明做进一步说明。

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