[发明专利]一种处理上行参考信号的方法和相关装置

权利要求书

1.一种处理上行参考信号的方法，其特征在于，包括：

确定当前的基带处理负载；

若所述基带处理负载小于第一预设值，则根据预置的第一规则处理接收到的N个上行参考信号中的各个上行参考信号，其中N为正整数；

若所述基带处理负载大于第二预设值，则根据预置的第二规则处理信号集合中的各个上行参考信号，所述第二预设值大于或等于所述第一预设值，所述信号集合包括所述N个上行参考信号中的一个或多个，根据所述第二规则处理上行参考信号对应的基带处理负载小于根据所述第一规则处理上行参考信号对应的基带处理负载。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据预置的第二规则处理信号集合中的各个上行参考信号包括：

对于信号集合中的各个上行参考信号，对M个需求项中的K个需求项进行测量，且对所述M个需求项中除所述K个需求项以外的其他需求项不进行测量，所述M个需求项为所述第一规则规定需要测量的需求项，其中K和M为正整数，且K小于M。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据预置的第二规则处理信号集合中的各个上行参考信号包括：

对于所述信号集合中的各个上行参考信号，根据第二周期对预置M个需求项中的K个需求项进行测量，所述第二周期大于所述第一规则规定测量K个需求项的第一周期，其中K和M为正整数，且K小于M。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据预置的第二规则处理信号集合中的各个上行参考信号包括：

对于所述信号集合中的各个上行参考信号，根据第二测量粒度对预置M个需求项中的K个需求项进行测量，所述第二测量粒度大于所述第一规则规定测量K个需求项所采用的第一测量粒度，其中K和M为正整数，且K小于M。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据预置的第二规则处理信号集合中的各个上行参考信号包括：

对于所述信号集合中的各个上行参考信号，根据第二算法对预置M个需求项中的K个需求项进行测量，所述第二算法对应的基带处理负载小于第一算法对应的基带处理负载，所述第一算法为所述第一规则规定测量K个需求项所采用的算法，其中K和M为正整数，且K小于M。

6.据权利要求2至5中任意一项所述的方法，其特征在于，在所述根据预置的第二规则处理信号集合中的各个上行参考信号之前，所述方法还包括：

对于所述信号集合中的各个上行参考信号，从所述M个需求项中确定所述K个需求项。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述对于所述信号集合中的各个上行参考信号，从所述M个需求项中确定所述K个需求项包括：

对于所述信号集合中的各个上行参考信号，根据各自对应的终端设备特征从所述M个需求项中确定所述K个需求项。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述终端设备特征包括终端设备的移动速度；

若所述终端设备的移动速度小于第三预设值，则所述K个需求项包括权值和/或定时提前量TA值需求项。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述终端设备特征包括终端设备的时延扩展；

若所述终端设备的时延扩展小于第四预设值，则所述K个需求项包括权值需求项。

10.根据权利要求1至5、7至9中任意一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述N个上行参考信号确定所述信号集合。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述根据所述N个上行参考信号确定所述信号集合包括：

根据所述N个上行参考信号各自对应的终端设备业务信息确定所述信号集合。