[发明专利]环境光调节装置、方法、图像传感器及电子装置在审

专利信息
申请号: 201911066629.5 申请日: 2019-11-04
公开(公告)号: CN110677596A 公开(公告)日: 2020-01-10
发明(设计)人: 臧凯;马志洁;李爽 申请(专利权)人: 深圳市灵明光子科技有限公司
主分类号: H04N5/235 分类号: H04N5/235;H04N5/357;G01J1/42
代理公司: 44224 广州华进联合专利商标代理有限公司 代理人: 史治法
地址: 518051 广东省深圳市南山区西丽*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 图像传感器 调节装置 接收光 环境光 环境光检测单元 控制器 控制调节装置 电子装置 目标信号 检测 模组 噪声
【说明书】:

发明涉及一种环境光调节装置、方法、图像传感器及电子装置,所述模组包括:环境光检测单元,用于检测环境光的强度值;调节装置,用于调节所述图像传感器接收光的强度;控制器,分别与所述环境光检测单元和所述调节装置连接,用于基于所述强度值控制所述调节装置调节所述图像传感器接收光的强度。通过控制器基于所述强度值控制调节装置调节图像传感器接收光的强度,避免了图像传感器接收光的强度过高使得检测的目标信号中的噪声过大而导致测量结果不准确,同时也避免了图像传感器因环境光强度过高造成的不能正常工作的情况发生。

技术领域

本发明涉及图像传感器技术领域,特别是涉及一种环境光调节装置、方法、图像传感器及电子装置。

背景技术

随着半导体成像技术的日益发展,半导体图像传感器因其体积小、能耗低及灵敏度高等诸多优点被广泛应用于数码相机、手机、医疗成像设备、安检设备、测距相机等各种电子设备中。

然而,传统的基于飞行时间的相机(Time of Flight,TOF)系统或激光雷达测距系统等测量深度或距离信息装置的图像传感器中,需要用到激光发射器来进行红外激光照明,如果环境光太强,会使得被检测的目标信号中的噪声过大,导致对目标信号的测量结果不准确,并且在环境光强度较高的情况下可能导致图像传感器无法正常工作,造成图像传感器的应用范围受到限制。

发明内容

基于此,有必要针对上述背景技术中环境光对图像传感器的测量精度与应用范围造成不良影响的技术问题,提供一种具备自动调节接收光的强度的环境光调节装置、方法、图像传感器及电子装置。

本申请的一方面提供一种环境光调节装置,包括:

环境光检测单元,用于检测环境光的强度值;

调节装置,用于调节所述图像传感器接收光的强度;以及

控制器,分别与所述环境光检测单元和所述调节装置连接,用于基于所述强度值控制所述调节装置调节所述图像传感器接收光的强度。

于上述实施例中的环境光调节装置中,由于设置了用于检测环境光的强度值的环境光检测单元,通过控制器基于所述强度值控制调节装置调节图像传感器接收光的强度,避免了图像传感器接收光的强度过高使得检测的目标信号中的噪声过大而导致测量结果不准确,同时也避免了图像传感器因环境光强度过高造成的不能正常工作的情况发生。

在其中一个实施例中,所述图像传感器中包括:

第一单光子雪崩二极管阵列,用于探测所述图像传感器接收光的强度;以及

第一时间数字转化器,与所述控制器连接,用于计算所述第一单光子雪崩二极管阵列被触发的次数以得到所述图像传感器接收光的强度。

在其中一个实施例中,所述环境光检测单元包括光电二极管或环境光传感器中的至少一种。

在其中一个实施例中,所述环境光检测单元设置于所述图像传感器的外侧。

在其中一个实施例中,所述环境光检测单元包括:

第二单光子雪崩二极管阵列,用于探测环境光的强度;以及

第二时间数字转化器,与所述控制器连接,用于计算所述第二单光子雪崩二极管阵列被触发的次数以得到环境光的强度。

在其中一个实施例中,所述第一单光子雪崩二极管阵列包括至少两个子信号区域,各子信号区域内的单光子雪崩二极管的输出信号相互叠加。

在其中一个实施例中,所述控制器被配置为当所探测强度值大于或等于预设的阈值时,控制所述调节装置减弱所述图像传感器接收光的强度和/或降低所述图像传感器工作的偏置电压。

在其中一个实施例中,所述调节装置包括:

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