[发明专利]一种双光谱三维姿态角测量装置及测量方法有效
申请号: | 201911064430.9 | 申请日: | 2019-11-04 |
公开(公告)号: | CN110986830B | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 陈森;陆卫国;王致强;刘爱敏;王海霞 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26;G01C1/00 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 郑丽红 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光谱 三维 姿态 测量 装置 测量方法 | ||
1.一种双光谱三维姿态角测量装置,其特征在于:包括双光谱光源(2)、二维自准直仪(1)、图像传感器电路板(3)、五棱分光棱镜(4)、折转棱镜(11)和数据处理模块(12);
所述双光谱光源(2)发射红绿光谱光束,该红绿光谱光束经二维自准直仪(1)的同一狭缝出射后入射至五棱分光棱镜(4),五棱分光棱镜(4)将红绿光谱光束分成两路,第一光路光束穿过五棱分光棱镜(4)直接入射至被测立方镜前表面(7),第二光路光束通过折转棱镜(11)折转入射至被测立方镜侧表面(8),两路光束原路反射,二维自准直仪(1)的图像传感器对返回的两路光束进行分时成像,图像传感器电路板(3)对成像的图像进行采集,并传输给数据处理模块(12),数据处理模块(12)通过计算得到被测立方镜(9)的三维姿态;
所述数据处理模块(12)包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现以下计算过程;
计算被测立方镜(9)的偏航角β、俯仰角ω和滚转角α;
S2y=f×tan2a2
α=arcsin(-sina2/cosω)
其中,S1z为第一光路光束在图像传感器上出射时的位置与返回时的位置在Z向的差值;S1y为第一光路光束在图像传感器上出射时的位置与返回时的位置在Y向的差值;S2y为第二光路光束在图像传感器上出射时的位置与返回时的位置在Y向的差值;f为二维自准直仪的接收系统焦距。
2.根据权利要求1所述的双光谱三维姿态角测量装置,其特征在于:所述五棱分光棱镜(4)的左侧面设置有附加棱镜(5),所述五棱分光棱镜(4)的右侧面、底面和附加棱镜(5)的左侧面镀有宽带增透膜,使得红光与绿光的透过率优于99%,所述五棱分光棱镜(4)的左侧面镀有半反半透膜,使红光透过率优于95%,使绿光反射率优于95%。
3.根据权利要求1或2所述的双光谱三维姿态角测量装置,其特征在于:所述双光谱光源(2)的红光波长范围为620nm~660nm,绿光波长范围为500nm~540nm。
4.根据权利要求3所述的双光谱三维姿态角测量装置,其特征在于:所述双光谱光源(2)采用双色LED灯。
5.一种基于权利要求1至4任一所述双光谱三维姿态角测量装置的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一、双光谱光源发射红绿光谱光束;
步骤二、二维自准直仪的图像传感器对返回的红绿光谱光束进行分时成像;
步骤三、图像传感器电路板对成像的图像进行采集,并传输给数据处理模块,数据处理模块通过融合计算得到被测立方镜的三维姿态;
3.1)获取第一光路光束在二维自准直仪图像传感器上的像点位移量S1z、S1y,第二光路光束在二维自准直仪图像传感器上的像点位移量S2y;
其中,S1z为第一光路光束在图像传感器上出射时的位置与返回时的位置在Z向的差值;S1y为第一光路光束在图像传感器上出射时的位置与返回时的位置在Y向的差值;S2y为第二光路光束在图像传感器上出射时的位置与返回时的位置在Y向的差值;
3.2)计算被测立方镜的偏航角β和俯仰角ω;
3.3)计算被测立方镜的滚转角α;
S2y=f×tan2a2
α=arcsin(-sina2/cosω)
其中,f为二维自准直仪的接收系统焦距。
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