[发明专利]一种自激发可存储式光电导器件及其制备方法有效
| 申请号: | 201911061486.9 | 申请日: | 2019-11-01 | 
| 公开(公告)号: | CN110828609B | 公开(公告)日: | 2021-08-27 | 
| 发明(设计)人: | 姜昱丞;贺安鹏 | 申请(专利权)人: | 苏州科技大学 | 
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/032;H01L31/0749 | 
| 代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 陶海锋 | 
| 地址: | 215011 江*** | 国省代码: | 江苏;32 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 激发 存储 电导 器件 及其 制备 方法 | ||
1.一种自激发可存储式光电导器件的制备方法,其特征在于包括如下步骤:
(1)将少层二硒化钨WSe2片从块材WSe2上转移到单晶钛酸锶SrTiO3衬底STO表面;
(2)在步骤(1)得到的样品一侧采用光刻工艺覆盖光刻胶,光刻胶覆盖面积占衬底STO表面面积的1/2~2/3,衬底另一侧的其余面积呈WSe2及STO表面暴露状态;
(3)采用磁控溅射工艺在步骤(2)获得的样品表面沉积金,再用丙酮将光刻胶去除后,步骤(2)中呈暴露状态的区域被金覆盖,覆盖光刻胶的部分呈WSe2及STO暴露状态;
(4)再采用光刻工艺在金覆盖的一侧覆盖光刻胶,光刻胶将金覆盖的全部面积及暴露的WSe2表面面积的1/2~2/3覆盖;
(5)采用离子束刻蚀工艺,将暴露的WSe2及STO刻蚀,待暴露的WSe2被全部刻蚀后,继续适量刻蚀STO衬底,直至被离子束刻蚀的STO衬底表面形成STO表面电子气SSEG;
(6)经丙酮、酒精和去离子水依次清洗样品后,得到一种WSe2/SSEG的PN结的自激发可存储式光电导器件。
2.按权利要求1制备方法得到的一种WSe2/SSEG PN结的自激发可存储式光电导器件。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





