[发明专利]一种基于金属檐结构的GaN基完全垂直肖特基变容管及其制备方法有效
申请号: | 201911051857.5 | 申请日: | 2019-10-31 |
公开(公告)号: | CN110808292B | 公开(公告)日: | 2023-07-18 |
发明(设计)人: | 祁路伟;张德海;孟进 | 申请(专利权)人: | 中国科学院国家空间科学中心 |
主分类号: | H01L29/93 | 分类号: | H01L29/93;H01L29/872;H01L21/329 |
代理公司: | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人: | 陈琳琳;张红生 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 金属 结构 gan 完全 垂直 肖特基变容管 及其 制备 方法 | ||
1.一种基于金属檐结构的GaN基完全垂直肖特基变容管的制备方法,所述制备方法包括如下步骤:
1)选择Si衬底的轻掺杂/重掺杂GaN外延片,外延片结构自下向上依次为Si衬底、过渡层、n+-GaN层、n--GaN层;
2)欧姆金属蒸发:在n+-GaN层上采用电子束蒸发Ti/Al/Ni/Au作为欧姆金属层,随后在N2环境下快速热退火处理;
3)键合金属Au蒸发:欧姆金属层上再蒸发一层Au作为键合层;
4)台面腐蚀:将过渡层、n--GaN层、n+-GaN层、欧姆金属层的周边用Ar离子干法刻蚀至Si衬底;
5)衬底片:选择Si衬底片,该衬底片表面覆盖Au键合层和衬底保护层,其中,Au键合层在衬底保护层之上;
6)键合:将步骤4)和步骤5)的Au键合层键合到一起;
7)刻蚀:采用等离子体深刻蚀移除步骤1)所述的Si衬底;并刻蚀过渡层至n--GaN层;
8)肖特基接触金属蒸发:在n--GaN层层上采用电子束蒸发肖特基接触金属层;
9)肖特基金属檐结构制作:以肖特基接触金属层作掩模层,采用干法刻蚀去除肖特基接触金属层以外的n--GaN层;
10)淀积介质层:在裸露的n+-GaN层以及n--GaN层和肖特基接触金属层上采用等离子体增强化学的气相沉积法生长SiO2层;
11)肖特基介质孔刻蚀:采用ICP干法刻蚀去除肖特基接触金属层上覆盖的SiO2,以露出肖特基接触金属层处的金属;
12)表面涂一层高分子聚合物膜用以支撑经步骤1)-11)生长的结构以及为下一步中的电镀金属pad做支撑;
13)电镀金属:在肖特基接触金属层上电镀Ti/Au金属作为阳极pad,在键合层上电镀Ti/Au金属作为阴极pad;
所述变容管的结构包括:
硅衬底层,硅衬底层上由下往上依次为衬底保护层、键合层、欧姆金属层、n+-GaN层、n--GaN层、肖特基接触金属层;肖特基接触金属层上为阳极pad,在键合层上还设置与键合层接触的阴极pad。
2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述步骤6)的键合条件为:270-330℃下键合15-25min。
3.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述步骤12)所涂的高分子聚合物膜采用的高分子聚合物为聚酰亚胺。
4.根根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述n+-GaN层为掺杂浓度大于5E18/cm3,厚度为3um~5um的重掺杂层,所述n--GaN层是掺杂浓度为3E16~2E17/cm3,厚度为300~500nm的轻掺杂层。
5.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述键合层采用厚度为的Au制作。
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