[发明专利]水分渗透性测量设备

说明书

本申请涉及水分渗透性测量设备。该水分渗透性测量设备，包括：第一主体构件，包括承靠部；柔性底板，布置在承靠部上；柔性顶板，布置在底板上；保持器部件，用于固定底板的下边缘部分和顶板的上边缘部分；以及第二主体构件，布置在保持器部件上，并具有限定在与顶板重叠的区域中的通孔，并且承靠部在平面上的面积小于底板在平面上的面积。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2018年11月12日提交至韩国知识产权局的第10-2018-0138032号韩国专利申请的优先权和权益，上述韩国专利申请的全部内容通过引用并入本申请。

技术领域

在本文中，本公开的实施方式的方面涉及水分渗透性测量设备。

背景技术

近来，OLED在显示器领域中变得越来越重要，并且正广泛应用于例如从小型移动电话到大型TV的各种应用。关于OLED显示器的主要技术之一是气体屏障技术(水分或氧气阻挡技术)或封装技术，两者都与OLED的寿命和耐用性有关。

即，OLED对水分非常敏感，OLED的水蒸气透过率(WVTR)容忍度为10^-6g/m²每天或更低(每平方米衬底每天透过的水量)。由于OLED目前使用玻璃衬底，因此衬底本身的水蒸气透过率没有问题，并且主要通过改善封装材料和密封材料的屏障性能来解决水蒸气透过的问题。

同时，与现有的刚性电子产品不同，由于诸如具有柔性形状的柔性显示器或电子纸的设备更轻、可弯曲且可折叠，因此预期它们在未来市场中占据重要位置。

然而，由于这种类型的柔性电子产品可使用塑料(聚合物)而不是玻璃作为衬底，因此它们可能引起问题。即，塑料衬底构造成这样一种结构，该结构在分子之间具有低密度的自由体积，且因此大量水分可通过衬底本身进入设备，并且此时的水分渗透量变为10g/m²每天。同时，测量材料的WVTR物理性质的技术也是非常重要的。有四种代表性的WVTR测量技术，即透过率测量、IR测量、质谱分析法和钙测试。

具体地，钙测试是用于测量10^-4g/m²每天或更少的极小量透过率的代表性方法，并且是使用UV可见光来测量通过与水分反应的不透明钙的透明度或使用电性质的变化来测量透过率的方法。

通常，它是通过用惰性气体或干燥空气使水蒸气饱和并将其送至一定量(例如，预定量)的反应材料(例如，钙)来测量反应材料的电阻变化，并从而测量WVTR的方法。

发明内容

根据本公开的实施方式的方面，提供了多弯曲的封装样本的水分渗透性测量设备。

根据本发明构思的一个或多个实施方式，水分渗透性测量设备包括：第一主体构件，包括承靠部；柔性的底板，布置在承靠部上；柔性的顶板，布置在底板上；保持器部件，用于固定底板的下边缘部分和顶板的上边缘部分；以及第二主体构件，布置在保持器部件上，并具有限定在与顶板重叠的区域中的通孔，其中，承靠部在平面上的面积小于底板在平面上的面积。

在实施方式中，底板可具有下开口。

在实施方式中，底板可具有网状图案形状。

在实施方式中，顶板可具有上开口。

在实施方式中，顶板可具有网状图案形状。

在实施方式中，底板的厚度可以大于顶板的厚度。

在实施方式中，底板可具有从底板的拐角的端部延伸的切割槽。

在实施方式中，顶板可具有从顶板的拐角的端部延伸的切割槽。

在实施方式中，顶板和底板可以呈弯曲状态布置在承靠部中。

在实施方式中，顶板和底板可以在两个轴上呈弯曲状态布置在承靠部中。