[发明专利]感测电路元件的特征值的方法和使用该方法的显示装置有效
申请号: | 201911051207.0 | 申请日: | 2019-10-31 |
公开(公告)号: | CN111199698B | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | 朴桄模 | 申请(专利权)人: | 乐金显示有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;G09G3/3225 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 刘久亮;黄纶伟 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电路 元件 特征值 方法 使用 显示装置 | ||
1.一种显示装置,该显示装置包括:
显示面板,该显示面板包括多条选通线、多条数据线和多个子像素;
选通驱动器电路,该选通驱动器电路用于驱动所述多条选通线;
数据驱动器电路,该数据驱动器电路用于驱动所述多条数据线;
劣化感测电路,该劣化感测电路电连接到所述多个子像素,以感测所述子像素中的有机发光二极管的劣化;以及
定时控制器,该定时控制器用于控制施加到所述选通驱动器电路和所述数据驱动器电路的信号,
其中,所述定时控制器控制所述选通驱动器电路进行相对于连接到第一选通线的子像素中的有机发光二极管的第一劣化感测处理,并且在所述第一劣化感测处理的升压时段期间开始相对于连接到第二选通线的子像素中的另一有机发光二极管的第二劣化感测处理的初始化时段,并且
其中,相对于有机发光二极管的所述第一劣化感测处理和所述第二劣化感测处理中的每一个包括初始化时段、升压时段、采样时段、以及在所述采样时段之后的用于将所述劣化感测电路复位的复位时段。
2.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述子像素包括:
有机发光二极管;
驱动晶体管,该驱动晶体管驱动所述有机发光二极管并且接收感测劣化用驱动电压;
开关晶体管,该开关晶体管电连接在所述驱动晶体管的栅极节点与所述多条数据线当中的一条数据线之间;以及
感测晶体管,该感测晶体管电连接在所述驱动晶体管的源极节点或漏极节点与基准电压线之间。
3.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述劣化感测电路包括:
放大器,在该放大器中,非反相输入端子接收感测用基准电压并且反相输入端子连接到基准电压线;
反馈电容器,该反馈电容器电连接在所述放大器的所述反相输入端子和所述放大器的输出端子之间;
复位开关,该复位开关并联地连接到所述反馈电容器;以及
采样开关,该采样开关连接到所述放大器的所述输出端子。
4.根据权利要求1所述的显示装置,其中,相对于有机发光二极管的所述第一劣化感测处理和所述第二劣化感测处理中的每一个包括:
所述初始化时段,在该初始化时段中,向所述选通线供应高电平扫描信号,以充入用于所述有机发光二极管的劣化感测的电压;
所述升压时段,在该升压时段中,在用于所述有机发光二极管的劣化感测的电压的充入完成之后,通过流过所述有机发光二极管的电流来对所述有机发光二极管的寄生电容器进行充电;以及
所述采样时段,在该采样时段中,检测充入到所述有机发光二极管的所述寄生电容器中的电容。
5.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述第一劣化感测处理与所述第二劣化感测处理之间的时间间隔大于所述劣化感测电路的所述复位时段的持续时间。
6.一种感测显示装置中的电路元件的特征值的方法,该显示装置包括:显示面板,该显示面板包括多条选通线、多条数据线和多个子像素;数据驱动器电路,该数据驱动器电路驱动所述多条数据线;选通驱动器电路,该选通驱动器电路驱动所述多条选通线;劣化感测电路,该劣化感测电路电连接到所述多个子像素,以感测所述子像素中的有机发光二极管的劣化;以及定时控制器,该定时控制器控制施加到所述选通驱动器电路和所述数据驱动器电路的信号,该方法包括以下步骤:
控制所述选通驱动器电路进行相对于连接到第一选通线的子像素中的有机发光二极管的第一劣化感测处理;以及
在所述第一劣化感测处理的升压时段期间开始相对于连接到第二选通线的子像素中的另一有机发光二极管的第二劣化感测处理的初始化时段,并且
其中,相对于有机发光二极管的所述第一劣化感测处理和所述第二劣化感测处理中的每一个包括初始化时段、升压时段、采样时段、以及在所述采样时段之后的用于将所述劣化感测电路复位的复位时段。
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