[发明专利]一种对托实验台架的温度控制方法及其装置

说明书

本发明提供了一种对托实验台架的温度控制方法，所述对托实验台架包括为被测电机散热的散热装置，所述散热装置包括水冷管道以及为所述水冷管道内的液体制冷的冷凝器，所述水冷管道与所述被测电机接触以为所述被测电机散热，其特征在于，所述温度控制方法包括：获取工作环境温度变化率和所述水冷管道内的液体温度变化率；基于所述工作环境温度变化率和所述水冷管道内的液体温度变化率计算所述散热装置的有效温度变化率；以及基于所述有效温度变化率确定所述冷凝器的制冷功率。

技术领域

本发明涉及电机控制领域，尤其涉及一种对托实验台架的控制方法及其控制装置。

背景技术

对托实验是电机实验的一种方法，实验时，将两台功率相近的电机同轴连接以便测试被测电机的负载特性，具体测试方法基于不同的电机可能存在一些区别。

对托实验台架则是用于对电机进行快速而准确的对托实验的平台。在对被测电机进行对托实验的过程中，特别是大功率永磁同步电机在对托实验台架上的测试实验，会产生大量的热的情形。

现有技术中，为防止被测电机产生的热量影响被测电机以及对托实验台架的健康情况，会采用恒定大功率的散热装置对对托实验台架及被测电机进行散热；或是采用简易的水冷散热装置对对托实验台架及被测电机进行散热。然而，恒定大功率的散热装置无论被测电机的产热量的速率大小，均以恒定的大功率对对托实验台架及被测电机进行散热，造成了资源的浪费。简易的水冷散热装置则无法满足被测电机的散热要求，影响被测电机调试实验数据的准确性。

为解决现有技术中存在的散热装置与被测电机的产热量的不匹配问题，本发明旨在提出一种对托实验台架的温度控制方法及其控制装置。

发明内容

以下给出一个或多个方面的简要概述以提供对这些方面的基本理解。此概述不是所有构想到的方面的详尽综览，并且既非旨在指认出所有方面的关键性或决定性要素亦非试图界定任何或所有方面的范围。其唯一的目的是要以简化形式给出一个或多个方面的一些概念以为稍后给出的更加详细的描述之序。

根据本发明的一方面，提供了一种对托实验台架的温度控制方法，所述对托实验台架包括为被测电机散热的散热装置，所述散热装置包括水冷管道以及为所述水冷管道内的液体制冷的冷凝器，所述水冷管道与所述被测电机接触以为所述被测电机散热，其特征在于，所述温度控制方法包括：

获取工作环境温度变化率和所述水冷管道内的液体温度变化率；基于所述工作环境温度变化率和所述水冷管道内的液体温度变化率计算所述散热装置的有效温度变化率；以及基于所述有效温度变化率确定所述冷凝器的制冷功率。

更进一步地，所述基于工作环境温度变化率和水冷管道内的液体温度变化率计算散热装置的有效温度变化率包括：

将所述工作环境温度变化率和所述水冷管道内的液体温度变化率代入所述有效温度变化率的计算公式W＝a*ΔT₁+b*ΔT₂以计算出所述有效温度变化率，其中，W为有效温度变化率，ΔT₁为工作环境温度变化率，ΔT₂为所述水冷管道内的液体温度变化率，a为所述工作环境温度变化率的权重系数，b为所述水冷管道内的液体温度变化率的权重系数。

更进一步地，所述工作环境温度变化率的权重系数为60％，所述水冷管道内的液体温度变化率的权重系数为40％。

更进一步地，所述基于工作环境温度变化率和水冷管道内的液体温度变化率计算散热装置的有效温度变化率还包括：