[发明专利]一种珍珠光洁度等级检测方法及系统有效
申请号: | 201911042513.8 | 申请日: | 2019-10-30 |
公开(公告)号: | CN110766683B | 公开(公告)日: | 2022-02-18 |
发明(设计)人: | 陈华才;王勇能;陈竹;庞越;王燕 | 申请(专利权)人: | 中国计量大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/62;G06T7/90 |
代理公司: | 杭州钤韬知识产权代理事务所(普通合伙) 33329 | 代理人: | 赵杰香;唐灵 |
地址: | 310018 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 珍珠 光洁度 等级 检测 方法 系统 | ||
1.一种珍珠光洁度等级检测方法,其特征在于,所述方法包括:
S1、获取一待测珍珠的全景图像,并根据所述全景图像中的每一个像素点所对应的RGB值,得到所述待测珍珠的表面成像区域;
S2、计算所述待测珍珠的表面成像区域中的总像素点个数;
S3、选取所述待测珍珠的表面成像区域中的一像素点作为参考像素点,计算该参考像素点与该表面成像区域中的每一个像素点的像素差别信息,统计所述像素差别信息小于一预设阈值的像素点个数,标记为该参考像素点对应的像素点个数;
S4、重复所述步骤S3,依次标记所述表面成像区域中的每一个像素点所对应的像素点个数;
S5、选取像素点个数的最大值,根据所述最大值和待测珍珠的表面成像区域中的总像素点个数,计算所述待测珍珠的瑕疵面积比重;
S6、根据所述待测珍珠的瑕疵面积比重,判定所述待测珍珠的光洁度等级;所述步骤S5包括:
根据式3计算所述待测珍珠的瑕疵面积比重,
i%=(1-D/K)*100% 式(3);
其中,i%为瑕疵面积比重,D为像素点个数的最大值,K为待测珍珠的表面成像区域中的总像素点个数。
2.如权利要求1所述的珍珠光洁度等级检测方法,其特征在于,所述步骤S1包括:
将所述待测珍珠旋转一周并通过工业相机进行拍摄,获取所述待测珍珠的连续多帧图像;
利用全景合成软件,将所述待测珍珠的连续多帧图像进行拼接处理,得到所述待测珍珠的全景图像。
3.如权利要求1所述的珍珠光洁度等级检测方法,其特征在于,所述步骤S1还包括:
将所述待测珍珠的全景图像等间隔地分成m行*n列,构成m*n个像素点;对所述待测珍珠的全景图像进行图像识别,获取所述全景图像中的每一个像素点对应的R值、G值和B值;
将所述待测珍珠的全景图像进二值化处理,得到二值化处理后的全景图像。
4.如权利要求3所述的珍珠光洁度等级检测方法,其特征在于,所述步骤S1还包括:
根据式(1)计算所述二值化处理后的全景图像中每一个像素点的RGB值的平方和,
其中,i为第i个像素点,Zi为第i个像素点的RGB值的平方和。
5.如权利要求4所述的珍珠光洁度等级检测方法,其特征在于,所述步骤S1还包括:
在所述二值化处理后的全景图像中,将所述Zi为0的像素点进行标记,记录为第一标记像素点;
在所有的第一标记像素点的周围像素点中查询,若一像素点的Z值不为0并且该像素点的周围像素点的Z值为0,标记该像素点为第二标记像素点;
在所有的第一标记像素点和所有的第二标记像素点中,将Z值为0并且被Z值不为0的像素点包围的像素点去除标记;
所述二值化处理后的全景图像中所有的未被标记的像素点的集合区域构成了二值化处理后的待测珍珠的表面成像区域;
将所述二值化处理后的待测珍珠的表面成像区域进行像素值还原,生成了所述待测珍珠的表面成像区域。
6.如权利要求3所述的珍珠光洁度等级检测方法,其特征在于,所述步骤S2包括:
在所述待测珍珠的表面成像区域中,获取该表面成像区域中的每一列的上、下边界像素点的位置信息;
根据所述每一列的上、下边界像素点位置信息,计算每一列的像素点个数;将所述每一列的像素点个数求和,得到所述待测珍珠的表面成像区域中的总像素点个数。
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