[发明专利]一种磁控基膜的色相在线检测装置及其检测方法有效

专利信息
申请号: 201911038467.4 申请日: 2019-10-29
公开(公告)号: CN110823807B 公开(公告)日: 2022-11-04
发明(设计)人: 陈弘 申请(专利权)人: 广东鑫瑞新材料科技有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/25
代理公司: 广州润禾知识产权代理事务所(普通合伙) 44446 代理人: 张柳;杨钊霞
地址: 515071 广东省汕头市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁控基膜 色相 在线 检测 装置 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种磁控基膜的色相在线检测装置,用于在磁控基膜生产线上对磁控基膜进行在线检测,设于镀膜滚筒与收膜卷之间,其特征在于,包括光源装置和检测系统,所述光源装置用于发出模拟太阳光的入射光照射到位于镀膜滚筒与收膜卷之间被拉平的待测样,所述检测系统用于获取光源照射到待测样品后的反射光的色度值;

所述在线检测装置还包括线性偏振片材,所述线性偏振片材用于调整待测样发出的反射光的s光和p光各占比,所述偏振片材包括中心旋转轴,可通过绕中心轴旋转调整线性偏光片材的偏转角度来模拟不同非金属材料的不同反射效果,s光和p光的占比用偏振度PR表示,根据不同材料的折射率,通过以下公式(1)计算出折射角θ2,将θ2带入(2)式,计算出PR,PR=Is/IP,其中,Is表示s光的强度,Ip表示p光的强度;

根据arctanPR得出偏振片的旋转角度值,继而根据样品实际色相反复调整最佳角度,以实现最真实地模拟各材料的不同反射效果,

其中n1代表空气的折射率,n2代表对应非金属材料的折射率,θ1代表入射角度,θ2代表在对应非金属材料中的折射角;

所述在线检测装置还包括消偏装置,所述消偏装置用于将所述光源装置发出的入射光转化为非偏振光后照射到待测样品上;

所述光源装置发出的入射光与待测样的入射角可调节, 所述入射角角度范围控制在30°~50°或85°~90°范围内。

2.根据权利要求1所述的一种磁控基膜的色相在线检测装置,其特征在于,所述光源装置为短弧氙灯。

3.根据权利要求1所述的一种磁控基膜的色相在线检测装置,其特征在于,所述检测系统还包括移动装置和人工窗口,所述移动装置用于移动所述检测系统使其偏离待测样的反射光方向,所述人工窗口用于人眼直接观察待测样反射光的色相。

4.根据权利要求1~3任一所述的一种磁控基膜的色相在线检测装置的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤S1:将色相在线检测装置搭建在镀膜滚筒及收膜卷之间,使所述光源装置发出的光源朝向磁控基膜的金属面;

步骤S2:打开所述光源装置,调节入射光与待测样的入射角度;

步骤S3:移动所述检测系统,使其位于待测样发出的反射光的方向,获取其色度值。

5.根据权利要求4所述的一种磁控基膜的色相在线检测装置的检测方法,其特征在于,所述检测系统设有人工窗口,步骤S3中移动所述检测系统,使其偏离待测样发出的反射光的方向,采用所述人工窗口直接观察待测样反射光的色相。

6.根据权利要求5所述的一种磁控基膜的色相在线检测装置的检测方法,其特征在于,通过获取的色度值计算色差值△E,其中,△E≤3 .0的待测样为合格产品,否则为不合格产品。

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