[发明专利]液晶配向力仿真方法、系统、设备及存储介质有效
| 申请号: | 201911032507.4 | 申请日: | 2019-10-28 |
| 公开(公告)号: | CN110764315B | 公开(公告)日: | 2022-05-03 |
| 发明(设计)人: | 张愉;兰松;陈兴武;曾德仁;谢忠憬 | 申请(专利权)人: | TCL华星光电技术有限公司 |
| 主分类号: | G02F1/1337 | 分类号: | G02F1/1337;G06F30/23;G06F119/14 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 李新干 |
| 地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 液晶 仿真 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
1.一种液晶配向力仿真方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:
根据待进行仿真的液晶显示面板模型中的薄膜晶体管阵列基板与彩膜基板之间的间距值、所述液晶显示面板模型中液晶层的液晶的介电常数、所述薄膜晶体管阵列基板与所述彩膜基板施加至所述液晶层的电压的电压值,控制所述液晶显示面板模型生成第一仿真图像;
获取生成所述第一仿真图像的所述液晶显示面板模型中的液晶的第一液晶配向力数据,所述第一液晶配向力数据包括所述第一仿真图像中的暗纹数目以及暗纹尺寸;
调整所述间距值、所述介电常数、所述电压值中的一者,并根据调整后的所述间距值、所述介电常数以及所述电压值控制所述液晶显示面板模型生成第二仿真图像;
获取生成所述第二仿真图像的所述液晶显示面板模型中的液晶的第二液晶配向力数据,所述第二液晶配向力数据包括所述第二仿真图像中的暗纹数目以及暗纹尺寸;
输出至少包括第一液晶配向力数据、第二液晶配向力数据的液晶配向力数据集合;
从所述液晶配向力数据集合中选择符合预定条件的液晶配向力数据,且输出符合所述预定条件的液晶配向力数据对应的间距值、介电常数以及电压值,所述预定条件为所述液晶显示面板模型所生成的仿真图像中关于暗纹的参数小于预定参数的条件,所述预定参数包括暗纹的数目阈值以及暗纹的尺寸阈值。
2.根据权利要求1所述的液晶配向力仿真方法,其特征在于,控制所述液晶显示面板模型生成第一仿真图像之前,所述液晶配向力仿真方法还包括如下步骤:
建立液晶显示面板立体模型;
获取所述液晶显示面板立体模型的参数,得参数化液晶显示面板模型;
采用网格划分参数化液晶显示面板模型,得待进行仿真的液晶显示面板模型;
获取待施加至所述待进行仿真的液晶显示面板模型中的液晶层的电压值。
3.根据权利要求1所述的液晶配向力仿真方法,其特征在于,所述液晶层的液晶为自取向垂直排列混合液晶或聚合物稳定配向型液晶。
4.一种液晶配向力仿真系统,其特征在于,所述液晶配向力仿真系统包括:
第一控制模块,用于根据待进行仿真的液晶显示面板模型中的薄膜晶体管阵列基板与彩膜基板之间的间距值、所述液晶显示面板模型中液晶层的液晶的介电常数、所述薄膜晶体管阵列基板与所述彩膜基板施加至所述液晶层的电压的电压值,控制所述液晶显示面板模型生成第一仿真图像;
第一获取模块,用于获取生成所述第一仿真图像的所述液晶显示面板模型中的液晶的第一液晶配向力数据,所述第一液晶配向力数据包括所述第一仿真图像中的暗纹数目以及暗纹尺寸;
调整模块,用于调整所述间距值、所述介电常数、所述电压值中的一者;
第二控制模块,用于根据调整后的所述间距值、所述介电常数以及所述电压值,控制所述液晶显示面板模型生成第二仿真图像;
第二获取模块,用于获取生成所述第二仿真图像的所述液晶显示面板模型中的液晶的第二液晶配向力数据,所述第二液晶配向力数据包括所述第二仿真图像中的暗纹数目以及暗纹尺寸;
输出模块,用于输出至少包括第一液晶配向力数据、第二液晶配向力数据的液晶配向力数据集合;
选择输出模块,用于从所述液晶配向力数据集合中选择符合预定条件的液晶配向力数据,且输出符合所述预定条件的液晶配向力数据对应的间距值、介电常数以及电压值,所述预定条件为所述液晶显示面板模型所生成的仿真图像中关于暗纹的参数小于预定参数的条件,所述预定参数包括暗纹的数目阈值以及暗纹的尺寸阈值。
5.根据权利要求4所述的液晶配向力仿真系统,其特征在于,所述液晶配向力仿真系统还包括:
建模模块,用于建立液晶显示面板立体模型;
参数化模块,用于获取所述液晶显示面板立体模型的参数,以得参数化液晶显示面板模型;
网格化模块,用于采用网格划分参数化液晶显示面板模型,以得待进行仿真的液晶显示面板模型;
第三获取模块,用于获取待施加至所述待进行仿真的液晶显示面板模型中的液晶层的电压值。
6.根据权利要求4所述的液晶配向力仿真系统,其特征在于,所述液晶层的液晶选自自取向垂直排列混合液晶或聚合物稳定配向型液晶。
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