[发明专利]次采样锁相回路

说明书

本发明揭露了一种次采样锁相回路，该回路包含有一相位检测器、一电荷泵、一振荡器以及一缓冲器。在该次采样锁相回路的操作中，该相位检测器使用一参考频率信号来对一反馈信号进行采样以产生第一相位检测结果，该电荷泵根据该第一相位检测结果以及一脉冲信号以产生一控制信号，该振荡器根据该控制信号以产生一输出频率信号；以及该缓冲器用以接收该输出频率信号并产生该反馈信号，并根据一回转率控制信号来控制该反馈信号的回转率。

技术领域

本发明涉及次采样锁相回路。

背景技术

在锁相回路中，其带宽会受到多个参数的影响，例如电荷泵的电流、除频器的系数、以及压控振荡器的增益等，而这些参数会很容易受到工艺、电压、温度偏移(process-voltage-temperature(PVT)variations)的影响，导致锁相回路的表现不稳定。

发明内容

因此，本发明的目的之一在于提供一种次采样锁相回路，其可以提供稳定的带宽，以解决先前技术中所述的问题。

在本发明的一个实施例中，揭露了一种次采样锁相回路，其包含有一第一相位检测器、一第一电荷泵、一振荡器以及一第一缓冲器。在该次采样锁相回路的操作中，该第一相位检测器使用一参考频率信号来对一反馈信号进行采样以产生一第一相位检测结果，该第一电荷泵根据该第一相位检测结果以及一脉冲信号以产生一第一控制信号，该振荡器根据该第一信号以产生一输出频率信号；以及该第一缓冲器用以接收该输出频率信号并产生该反馈信号，并根据一回转率控制信号来控制该反馈信号的回转率。

在本发明的另一个实施例中，揭露了一种次采样锁相回路，其包含有一相位检测器、一脉冲信号产生电路、一电荷泵、一振荡器以及一脉冲宽度控制电路。在该次采样锁相回路的操作中，该相位检测器使用一参考频率信号来对一反馈信号进行采样以产生一相位检测结果；该脉冲信号产生电路根据该参考频率信号以产生一脉冲信号；该电荷泵根据该相位检测结果以及该脉冲信号以产生一控制信号；该振荡器根据该控制信号以产生一输出频率信号；以及该脉冲宽度控制电路根据该输出频率信号以产生一脉冲宽度控制信号至该脉冲信号产生电路，以控制该脉冲信号的脉冲宽度。

附图说明

图1为根据本发明一实施例的次采样锁相回路的示意图。

图2为根据本发明一实施例的次采样锁相回路的带宽校正方法的流程图。

图3为根据本发明一实施例的脉冲宽度控制电路的示意图。

图4为根据本发明一实施例的缓冲器、相位检测电路以及回转率控制电路的示意图。

具体实施方式

图1为根据本发明一实施例的次采样锁相回路(sub-samplingphase-lockedloop)100的示意图。如图1所示，次采样锁相回路100包含有一脉冲信号产生电路110、一第一电荷泵120、一相位检测器130、一缓冲器140、一振荡器150、一回转率控制电路160、一脉冲宽度控制电路170、一粗频率选择电路180、一相位频率检测器192、一第二电荷泵194、一除频器196、电容CP、CS以及一电阻RS。