[发明专利]获取喷头对齐误差值的方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 201911026851.2 申请日: 2019-10-26
公开(公告)号: CN110816082B 公开(公告)日: 2021-01-05
发明(设计)人: 何伟;黄中琨;陈艳 申请(专利权)人: 森大(深圳)技术有限公司
主分类号: B41J3/54 分类号: B41J3/54;B41J2/11;B41J2/12;B41J29/38
代理公司: 成都恪睿信专利代理事务所(普通合伙) 51303 代理人: 陈兴强
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 获取 喷头 对齐 误差 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种获取喷头对齐误差值的方法,其特征在于,所述方法包括:

获取第一水平基准图像数据,控制第一喷头依据所述第一水平基准图像数据进行喷墨打印得到第一水平基准图像;

移动第二喷头或打印介质使得所述第二喷头位于所述第一水平基准图像的下方,所述下方为所述第二喷头或所述打印介质移动方向相反的方向;

获取第一水平校准图像数据,控制所述第二喷头依据所述第一水平校准图像数据进行喷墨打印得到第一水平校准图像;

依据所述第一水平基准图像和所述第一水平校准图像获得所述第一喷头与所述第二喷头的第一水平对齐误差值;

其中,所述第一水平基准图像为在水平方向标有像素数值的刻度尺,所述第一水平校准图像为正三角形,所述正三角形的一个顶点与所述刻度尺重合。

2.根据权利要求1所述的获取喷头对齐误差值的方法,其特征在于,所述方法还包括:

获取第二水平基准图像数据,控制第一喷头依据所述第二水平基准图像数据进行喷墨打印得到第二水平基准图像;

移动第二喷头或打印介质使得所述第二喷头位于所述第二水平基准图像处;

获取第二水平校准图像数据,控制所述第二喷头依据所述第二水平校准图像数据进行喷墨打印得到第二水平校准图像;

依据所述第二水平基准图像和所述第二水平校准图像获得所述第一喷头与所述第二喷头的第二水平对齐误差值。

3.根据权利要求2所述的获取喷头对齐误差值的方法,其特征在于,所述方法还包括:

依据所述第二水平对齐误差值控制所述第二喷头依据所述第二水平校准图像数据进行喷墨打印获得水平验证图像;

依据所述第二水平基准图像和所述水平验证图像判断获取的所述第二水平对齐误差值是否正确。

4.根据权利要求1或3所述的获取喷头对齐误差值的方法,其特征在于,所述方法还包括:

获取第一垂直基准图像数据,控制第一喷头依据所述第一垂直基准图像数据进行喷墨打印得到第一垂直基准图像;

移动第二喷头或打印介质使得所述第二喷头位于所述第一垂直基准图像的下方;

获取第一垂直校准图像数据,控制所述第二喷头依据所述第一垂直校准图像数据进行喷墨打印得到第一垂直校准图像;

依据所述第一垂直基准图像和所述第一垂直校准图像获得所述第一喷头与所述第二喷头的第一垂直对齐误差值;

其中,所述第一垂直基准图像为在垂直方向标有像素数值的刻度尺,所述第一垂直校准图像为正三角形,所述第一垂直校准图像的正三角形的一个顶点与所述第一垂直基准图像的刻度尺重合。

5.根据权利要求1或2所述的获取喷头对齐误差值的方法,其特征在于,所述第一水平校准图像的正三角形与所述刻度尺重合的一个顶点的像素值与所述刻度尺零点的像素值相等。

6.根据权利要求5所述的获取喷头对齐误差值的方法,其特征在于,所述依据所述第一水平基准图像和所述第一水平校准图像获得所述第一喷头与所述第二喷头的第一水平对齐误差值包括:

获取所述第一水平校准图像与所述第一水平基准图像对齐的刻度值,所述刻度值为所述第一水平对齐误差值。

7.一种获取喷头对齐误差值的装置,其特征在于,所述装置包括:

第一水平基准图像获取模块,用于获取第一水平基准图像数据,控制第一喷头依据所述第一水平基准图像数据进行喷墨打印得到第一水平基准图像;

第一步进模块,用于移动第二喷头或打印介质使得所述第二喷头位于所述第一水平基准图像的下方,所述下方为所述第二喷头或所述打印介质移动方向相反的方向;

第一水平校准图像获取模块,用于获取第一水平校准图像数据,控制所述第二喷头依据所述第一水平校准图像数据进行喷墨打印得到第一水平校准图像;

第一水平对齐误差值获取模块,用于依据所述第一水平基准图像和所述第一水平校准图像获得所述第一喷头与所述第二喷头的第一水平对齐误差值;

其中,所述第一水平基准图像为在水平方向标有像素数值的刻度尺,所述第一水平校准图像为正三角形,所述正三角形的一个顶点与所述刻度尺重合。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于森大(深圳)技术有限公司,未经森大(深圳)技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911026851.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top