[发明专利]用于确定颗粒污染的系统和方法在审
| 申请号: | 201911024698.X | 申请日: | 2019-10-25 |
| 公开(公告)号: | CN111103219A | 公开(公告)日: | 2020-05-05 |
| 发明(设计)人: | 斯特凡·魏斯;亚历山大·赫尔曼;罗伯特·沃尔夫;亚历山大·范德李;沃尔弗拉姆·约翰内斯·马丁·莱达;鲍拉日·亚陶科斯;罗伯特·魏斯;泽伦·索夫克;汉斯·斯普鲁伊特;延斯-阿尔里克·阿德里安;马蒂亚斯·法尔克;多米尼克·莫泽 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司;特鲁普光子元件有限公司 |
| 主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06;G01D21/02 |
| 代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 曾贤伟;许静 |
| 地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 确定 颗粒 污染 系统 方法 | ||
1.一种用于确定颗粒污染的系统,该系统至少包括:
检测器设备(10),其用于检测该检测器设备(10)的测量环境中的各个颗粒;
评估设备(12),其针对所述检测器设备(10)的检测信号(14),该评估设备(12)被设计为:
-确定所述测量环境中每体积的颗粒数量的至少一个估计,并且
-确定所述测量环境中的所述颗粒污染的输出值(x),其中,所述颗粒污染的所述输出值(x)基于每体积的颗粒数量的至少一个估计并且基于描述所述测量环境中的至少一个颗粒源的表征信息(16);
所述系统的特征在于:
颗粒源估计设备(18),所述颗粒源估计设备(18):
-能够访问情境相关数据(20),并且
-将所述情境相关数据(20)作为如下处理的基础:用于估计所述测量环境中的所述至少一个颗粒源的所述表征信息(16),并使所述表征信息能够用于所述评估设备(12),以便确定所述颗粒污染的所述输出值(x)。
2.根据权利要求1所述的用于确定颗粒污染的系统,所述系统的特征在于:至少一个传感器(26),所述至少一个传感器(26)捕获至少一些所述情境相关数据(20),特别是惯性传感器、压力传感器、温度传感器、湿度传感器、气体传感器、风传感器、光传感器、照相机和/或麦克风。
3.根据权利要求1或2所述的用于确定颗粒污染的系统,所述系统的特征在于:至少一个时间信息发送器(28),该至少一个时间信息发送器(28)使得一天中的时刻、一周内的周几的信息和/或日期信息对于所述颗粒源估计设备(18)能够作为至少一些所述情境相关数据(20)使用。
4.根据前述权利要求中的任一项所述的用于确定颗粒污染的系统,所述系统的特征在于,用于外部提供的情境相关数据的至少一个接口(30),特别是
-到定位系统和/或到导航系统的接口,用于获取位置数据作为至少一些所述外部提供的情境相关数据,和/或
-到数据供应商的接口,特别地用于获取本地天气数据、关于本地地震和/或火山活动的信息、本地交通信息和/或另外的本地活跃颗粒源作为至少一些所述外部提供的情境相关数据。
5.根据前述权利要求中的任一项所述的用于确定颗粒污染的系统,所述系统的特征在于,至少一个用户接口(32),用于至少一些情境相关数据(20)的用户发起的输入。
6.根据前述权利要求中的任一项所述的用于确定颗粒污染的系统,所述系统的特征在于,用于来自至少两个不同的已知颗粒源的所述表征信息的至少一个存储介质(24),其中,所述颗粒源估计设备(18)能够访问所述至少一个存储介质(24)并且被设计为将能够使用的情境相关数据(20)作为如下处理的基础:用于选择至少一个所述已知颗粒源,并且使描述至少一个所选颗粒源的表征信息对于所述评估设备(12)能够使用以确定所述颗粒污染的所述输出值(x)。
7.根据前述权利要求中的任一项所述的用于确定颗粒污染的系统,所述系统的特征在于,所述表征信息(16)包括关于颗粒的尺寸分布的信息、关于颗粒的质量分布的信息、关于颗粒的特定材料密度的分布的信息、关于颗粒的材料组成的信息、关于颗粒的至少一个表面状态的信息和/或关于颗粒的至少一个光学性质的信息。
8.根据前述权利要求中的任一项所述的用于确定颗粒污染的系统,其特征在于,所述检测器设备(10)是光学颗粒传感器装置,所述光学颗粒传感器装置包括用于将至少一个测量激光束发送到所述测量环境中的发射设备和用于检测由所述测量环境中的颗粒散射的所述至少一个测量激光束的光的检测设备。
9.根据前述权利要求中的任一项所述的用于确定颗粒污染的系统,其特征在于,所述检测器设备(10)安装在配备有至少一个处理器的移动设备中,其中,所述评估设备(12)的功能和/或所述颗粒源估计设备(18)的功能至少部分地由所述移动设备的所述至少一个处理器执行。
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