[发明专利]用于改善位的基于子块的分配的嵌入式编解码器电路系统

权利要求书

1.一种嵌入式编解码器EBC电路系统，包括：

存储器，被配置为存储一维1D图像块的量化变换残差量的多个1D子块；以及

编码器电路系统，被配置为：

对于所述多个1D子块中的每个1D子块将来自多个AC量化变换残差量中的AC量化变换残差量的最大值与第一参考值和第二参考值进行比较；

基于来自所述多个1D子块中的每个1D子块中的多个AC量化变换残差量中的AC量化变换残差量的最大值与第一参考值和第二参考值的比较，为所述多个1D子块中的每个1D子块从子块类别集合中确定子块类别，其中，子块类别集合中的每个子块类别指示对于所述多个1D子块中的对应1D子块的不同的平坦度级别和复杂度级别；

通过应用熵编码方案对所述多个1D子块进行编码，以生成多个编码1D子块；以及

基于所述多个1D子块中的第一1D子块的子块类别，在与所述多个编码1D子块中的第一编码1D子块中的编码的量化变换残差量集合对应的位平面集合中的位位置处分配多个改善位，其中，第一1D子块与第一编码1D子块对应。

2.如权利要求1所述的EBC电路系统，其中，编码器电路系统进一步被配置为通过顺序编码方案对1D图像块进行编码，以生成所述多个编码1D子块，

其中，顺序编码方案包括1D变换、然后是量化、残差预测和熵编码方案的顺序应用。

3.如权利要求1所述的EBC电路系统，其中，编码器电路系统进一步被配置为对1D图像块应用1D变换以生成所述多个1D子块，其中，所述多个1D子块中的每个1D子块包括DC量化变换残差量和多个AC量化变换残差量。

4.如权利要求3所述的EBC电路系统，

其中，1D变换的类型基于所述多个1D子块中的每个1D子块的尺寸，以及

其中，所述多个1D子块中的每个1D子块的尺寸是在对1D图像块进行编码之前指定的。

5.如权利要求3所述的EBC电路系统，其中，所述多个编码1D子块中的每个编码1D子块包括多个编码的量化变换残差量。

6.如权利要求5所述的EBC电路系统，

其中，所述多个编码的量化变换残差量中的每个编码的量化变换残差量包括与定义的位深对应的位集合，以及

其中，用于所述多个改善位的分配的改善位的数量基于定义的位深和位集合。

7.如权利要求5所述的EBC电路系统，

其中，所述多个编码的量化变换残差量包括与DC量化变换残差量对应的DC量化变换残差编码量和与所述多个AC量化变换残差量对应的多个AC量化变换残差编码量，以及

其中，编码的量化变换残差量集合包括所述多个AC量化变换残差编码量中的至少一个以及DC量化变换残差编码量。

8.如权利要求1所述的EBC电路系统，其中，编码器电路系统进一步被配置为基于所述多个1D子块中的每个1D子块的子块类别，向所述多个1D子块中的每个1D子块分配信令位集合。

9.如权利要求8所述的EBC电路系统，其中，编码器电路系统进一步被配置为基于分配给与第一编码1D子块对应的第一1D子块的信令位集合，在第一编码1D子块中选择编码的量化变换残差量集合。

10.如权利要求1所述的EBC电路系统，其中，编码的量化变换残差量集合中的编码的量化变换残差量的计数取决于与第一编码1D子块对应的第一1D子块的所确定的子块类别。

11.如权利要求1所述的EBC电路系统，其中，对于子块类别集合中的每个子块类别，编码的量化变换残差量集合中的编码的量化变换残差量的计数是不同的。

12.如权利要求1所述的EBC电路系统，

其中，AC量化变换残差量的最大值是大于或等于0的绝对最大值。