[发明专利]导弹性能测试系统用转台控制单元

权利要求书

1.一种导弹性能测试系统用转台控制单元，其特征在于：所述转台控制单元包括转台控制单元箱体（9），第一交流输入接口内嵌到所述转台控制单元箱体（9）上，第一交流输入接口经第一电源开关与第一开关电源输入端连接，所述第一开关电源的输出端与第一电源处理电路的一个输入端连接，第一直流电源插座内嵌在所述转台控制单元箱体（9）上，所述第一直流电源插座与所述第一电源处理电路的另一个输入端连接，所述第一电源处理电路的输出端分为三路，第一路与转台控制接口的电源接线端子连接，第二路与第一主控芯片模块的电源电压检测接口连接，第三路与CAN通信芯片的电源输入端连接，所述第一主控芯片模块与CAN通信芯片之间双向连接，CAN通信芯片与所述转台控制接口双向连接，通过所述转台控制接口与目标模拟转台上的转台控制接口连接，USB接口以及数据采集接口内嵌到所述转台控制单元箱体（9）上，计算机测控单元通过所述USB接口与数据采集卡连接，导弹性能测试单元通过数据采集接口与所述数据采集卡连接，所述数据采集卡通过端口转换接插件与所述第一主控芯片模块的IO口连接，所述端口转换接插件与所述数据采集接口之间通过IO/CNT接口连接。

2.如权利要求1所述的导弹性能测试系统用转台控制单元，其特征在于：所述第一电源处理电路包括+24V电源模块、+12V电源模块以及+5V电源模块，所述+24V电源模块包括继电器K3，所述继电器K3的线圈与第一开关电源的+24V电源输出端连接，所述K3的单刀双掷开关的常闭触点与直流供电模块的+24V电源输出端连接，所述K3的单刀双掷开关的常开触点与第一开关电源的+24V电源输出端连接，所述K3的单刀双掷开关的公共触点分为三路，第一路为+24V电源输出端，第二路经电容C18接地，第三路经电容C16接地；

+12V电源模块包括接插件P1，所述接插件P1的1脚和2脚接第一开关电源的+24V电源输出端，所述P1的3脚和4脚接地，所述P1的1脚和2脚分为三路，第一路经电容C4接地，第二路经电容C3接地，第三路与24V转12V电源转换芯片U1的电源输入端连接，所述U1的1脚接地，所述U1的3脚与继电器K1的双刀双掷开关的一个常开触点连接，所述U1的4脚与继电器K1的双刀双掷开关的另一个常开触点连接；所述K1的线圈一端与第一开关电源的+24V电源输出端连接，另一端接地；所述K1双刀双掷开关的一个常闭触点与第一开关电源的+12V电源输出端连接，所述K1双刀双掷开关的另一个常闭触点接地，所述K1双刀双掷开关的一个公共接线端分为四路，第一路为+12V电源输出端，第二路经电容C2接地，第三路经电容C1接地，第四路依次经电阻R1、电阻R2接地，电容C5与电阻R2并联；

+5V电源模块包括电压转换芯片U4，所述U4的1脚分为三路，第一路经电容C9接地，第二路经电容C10接地，第三路与直流供电模块的+12V电源输出端连接，所述U4的4脚接地，所述U4的3脚与继电器K2的双刀双掷开关的一个常闭触点连接，所述继电器K2的双刀双掷开关的另一个常闭触点接地；24V转5V电压转换模块U6的1脚接地，所述U6的2脚与第一开关电源的+24V电源模块的输出端连接，所述U6的3脚与所述继电器K2的双刀双掷开关的一个常开触点连接，所述U6的5脚与所述继电器K2的双刀双掷开关的另一个常开触点连接，所述继电器K2的双刀双掷开关的一个公共触点分为四路，第一路为+5V电源输出端，第二路经电容C14接地，第三路经电容C13接地，第四路依次经电阻R9、电阻R10后接地，电容C15与电阻R10接地；所述K2的线圈一端与第一开关电源的+24V电源输出端连接，另一端接地。

3.如权利要求1所述的导弹性能测试系统用转台控制单元，其特征在于：所述第一主控芯片模块包括AT90CAN32型主控芯片U7，所述U7的30脚经电阻R18与TD501MCANFD型CAN总线芯片U8的1脚连接，所述主控芯片U7的31脚经电阻R17与所述U8的2脚连接；所述U8的3脚接地，所述U8的4脚接+5V电源，所述U8的5脚悬空，所述U8的6脚和7脚为总线连接端，所述主控芯片U7的48脚分为两路，第一路经电阻R12接地，第二路经电阻R11与三极管Q1的基极连接，所述Q1的发射极接地，所述Q1的集电极与蜂鸣器LS1的接地端连接，所述蜂鸣器LS1的电源输入端与+12V电源连接。