[发明专利]一种Open Block测试装置、方法及系统

权利要求书

1.一种Open Block测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S0，测试主机控制测试控制器通过温控部件调节Nand Flash芯片所处环境温度，并等待温度稳定；

S1，测试主机控制测试控制器对Nand Flash芯片的测试Block进行部分写入数据；

S2，测试主机定时控制测试控制器对测试Block进行读取数据；

S3，测试控制器根据读取数据计算测试Block每个page的BER数据，并将所计算的BER数据和对应Block信息返回测试主机；

S4，测试主机根据返回BER数据、对应Block信息分析并显示测试结果；

测试主机端具体执行以下步骤：

S101，与测试控制器建立连接；

S102，生成Random数据并下发至测试控制器；

S103，下发温控命令至测试控制器；

S104，接收测试控制器返回的温度稳定信号；

S105，设置在该温度下的最大测试时间；

S106，下发待测样本Block编号至测试控制器；

S107，下发开始测试命令至测试控制器；

S108，定时下发获取BER命令至测试控制器直到最大测试时间；

S109，接收测试控制器返回的BER数据、BER数据与page的对应关系以及对应Block写入数据量；

S110，将BER数据、BER数据与page的对应关系、对应Block写入数据量、此次测试的温度保存；

S111，待所有测试完成后，对所保存数据进行分析并显示测试结果；

S112，根据测试结果结合后续使用的Nand控制器的BER最大纠错能力找出对应测试Block的Open时间。

2.根据权利要求1所述的Open Block测试方法，其特征在于，测试控制器端具体执行以下步骤：

S201，接收Random数据并保存；

S202，接收温控命令；

S203，控制温度部件调节Nand Flash芯片所处环境的温度至所需测试的温度；

S204，待测温探头检测到温度稳定后，将温度稳定信号发送至测试主机；

S205，接收待测样本Block编号并保存；

S206，接收到测试命令后，对测试Block的部分page写入Random数据，使测试Block处于Open状态，且记录所写入数据信息；

S207，接收到获取BER命令后，读取测试Block中的所有page的数据；

S208，将读取的所有page的数据与原始写入对应page的数据进行比较，计算出每个page的BER数据；

S209，将BER数据、BER数据与page的对应关系、对应Block写入数据量发送至测试主机。

3.一种Open Block测试系统，其特征在于，

测试主机端包括：

连接模块，与测试控制器建立连接；

Random数据生成模块，生成Random数据并下发至测试控制器；

温控命令下发模块，下发温控命令至测试控制器；

温度稳定信号接收模块，接收测试控制器返回的温度稳定信号；

测试时间设置模块，设置在该温度下的最大测试时间；

样本编号下发模块，下发待测样本Block编号至测试控制器；

测试命令下发模块，下发开始测试命令至测试控制器；

获取BER命令下发模块，定时下发获取BER命令至测试控制器直到最大测试时间；

接收数据模块，接收测试控制器返回的BER数据、BER数据与page的对应关系以及对应Block写入数据量；

数据保存模块，将BER数据、BER数据与page的对应关系、对应Block写入数据量、对应测试温度保存；

结果分析显示模块，待所有测试完成后，对所保存数据进行分析并显示测试结果；

Open时间查找模块，根据测试结果结合后续使用的Nand控制器的BER最大纠错能力找出对应测试Block的Open时间。

4.根据权利要求3所述的Open Block测试系统，其特征在于，测试控制器端包括：

Random数据接收模块，接收Random数据并保存；

温控命令接收模块，接收温控命令；

温度调节控制模块，控制温度部件调节Nand Flash芯片所处环境温度至所需测试的温度；

温度稳定信号发送模块，待测温探头检测到温度稳定后，将温度稳定信号发送至测试主机；

样本编号接收模块，接收待测样本Block编号并保存；

数据写入模块，接收到测试命令后，对测试Block的部分page写入Random数据，使测试Block处于Open状态，且记录所写入数据信息；

数据读取模块，接收到获取BER命令后，读取测试Block中的所有page的数据；

BER计算模块，将读取的所有page的数据与原始写入对应page的数据进行比较，计算出每个page的BER数据；

数据发送模块，将BER数据、BER数据与page的对应关系、对应Block写入数据量发送至测试主机。