[发明专利]一种人造光学石英晶体材料条纹检测仪在审

专利信息
申请号: 201911018487.5 申请日: 2019-10-24
公开(公告)号: CN110618136A 公开(公告)日: 2019-12-27
发明(设计)人: 朱中晓;朱超 申请(专利权)人: 北京石晶光电科技股份有限公司
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95;G01N21/01
代理公司: 11019 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 贾双明;寿宁
地址: 100086 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 立板支架 透镜 底板 激光发射器 滑动安装 石英晶体 安装孔 推架 光学石英晶体 材料条纹 电性连接 工业相机 激光电源 条纹缺陷 燕尾导轨 滑动 上端 观察孔 检测仪 固接 外接 下端 支腿 显示器 穿过 图像 检测 观察
【说明书】:

一种人造光学石英晶体材料条纹检测仪,包括推架和立板支架,所述推架包括顶板、底板和位于两者之间的多个支腿,该顶板上设置有观察孔和供立板支架通过的安装孔,立板支架下端与底板固接,上端穿过顶板上的安装孔,该立板支架采用燕尾导轨机构,上面滑动安装有位于顶板上部的可沿立板支架长度方向滑动的工业相机,立板支架在顶板下部由上至下依次滑动安装有第一透镜、第二透镜和激光发射器,所述激光发射器位于第二透镜的正下方且与放置在底板上的激光电源电性连接。本发明只需通过调节第一透镜和第二透镜的高度便可在外接的显示器中观察石英晶体图像,可有效的检测石英晶体是否有条纹缺陷。

技术领域

本发明属于人造石英晶体加工领域,特别涉及一种人造光学石英晶体材料条纹检测仪。

背景技术

人造光学石英晶体在高压釜内生长过程中,生长周期长达100多天,不仅由于釜体内部上中下各部位的温度、压力存在差异,溶液的流动性变化较大,而且受外部环境气温、季节、保温系统等变化影响,导致在生长过程中不同阶段和位置对在晶体结晶时的晶格排列产生影响,继而产生透光不均性。而这种不均匀缺陷部分只有在晶体加工为抛光片后才能使用专业检测仪器观察到,其特征为呈现一定的条纹状缺陷。对于这些条纹缺陷的检测传统操作方式是采用进口专业设备检查,由于国内目前光学石英晶体加工企业较少,仪器开发难度较大,市场需用量不大,所以国内目前无人开发。日本电子工业较为发达,所以该类检查仪器只有少数日本企业能够生产,但是价格高昂、订货周期较长。

发明内容

为了克服现有不足,本发明的目的在于提出一种易于操作并能够快速实现光学条纹缺陷检测的一种人造光学石英晶体材料条纹检测仪。

本发明的目的是采用以下技术方案来实现。依据本发明提出的一种人造光学石英晶体材料条纹检测仪,包括立板支架、推架,推架包括顶板、底板以及用于支撑顶板和底板的多个支腿,顶板上设有观察孔和供立板支架通过的安装孔,立板支架上由上至下依次安装有工业相机、第一透镜、第二透镜、激光发射器;工业相机、第一透镜、第二透镜与立板支架滑动连接,激光发射器与立板支架固接;工业相机位于顶板上部,第一透镜、第二透镜、激光发射器位于顶板和底板之间且激光发射器设于第二透镜的正下方,该激光发射器还与激光电源电性连接,顶板上端面与工业相机镜头下端面之间的区域为石英晶体的检测区域。

进一步的,立板支架固接在底板上,其上端穿过顶板上的安装孔。

进一步的,立板支架和推架均为铝合金材质。

进一步的,立板支架沿其长度方向设置有燕尾导轨机构,用于安装第一透镜的第一安装架和用于安装第二透镜的第二安装架以及用于安装工业相机的第三安装架均与该燕尾导轨机构滑动连接使第一透镜、第二透镜和工业相机均可以沿立板支架长度方向位移。

进一步的,激光发射器、第二透镜、第一透镜和工业相机的光轴位于同一竖直线上。

进一步的,支腿的底部安装有脚杯。

进一步的,所述激光发射器上端面与用于安装第二透镜的第二安装架上端面之间的距离为L1,第二安装架上端面与第一安装架上端面之间的距离为L2,且L2>L1。

借由上述技术方案,本发明一种人造光学石英晶体材料条纹检测仪的立板支架和推架等均采用了整体铝合金材质,避免了锈蚀杂质产生的污染,稳定可靠。该装置采用工业相机,采集显示系统解析度好,成像清晰,易于目测判断;该立板支架采用铝合金燕尾导轨机构,方便定位安装透镜、工业相机、激光发射器,第一透镜和第二透镜可以沿立板支架长度方向上下移位来调整L1、L2的距离实现图像大小和显示幅面的调整。本发明操作简单、检测可靠、方便灵活、实用性强、检测效果理想,可以保证在线产品质量缺陷的有效检测。

上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能更清楚了解本发明的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举较佳实施例,并配合附图,详细说明如下。

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