[发明专利]阵列基板的制造方法及阵列基板在审
申请号: | 201911013977.6 | 申请日: | 2019-10-23 |
公开(公告)号: | CN110648965A | 公开(公告)日: | 2020-01-03 |
发明(设计)人: | 刘翔 | 申请(专利权)人: | 成都中电熊猫显示科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12;G02F1/1362 |
代理公司: | 11205 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李小波;刘芳 |
地址: | 610200 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 次光 刻蚀阻挡层 阵列基板 沟槽区 漏极 源极 金属氧化物层 源漏金属层 衬底基板 钝化层 遮光层 沉积 沉积栅极绝缘层 工艺形成栅极 沉积钝化层 透明导电层 栅极绝缘层 导电过孔 像素电极 栅金属层 制造成本 制造工艺 涂覆 源岛 制造 延伸 覆盖 | ||
本发明提供一种阵列基板的制造方法及阵列基板,该制造方法包括:在衬底基板上沉积栅金属层,通过第一次光刻工艺形成栅极。在衬底基板和栅极上依次沉积栅极绝缘层、金属氧化物层、刻蚀阻挡层和源漏金属层,通过第二次光刻工艺使金属氧化物层和刻蚀阻挡层形成有源岛,源漏金属层形成源极和漏极,在源极和漏极之间形成沟槽区,且沟槽区延伸到刻蚀阻挡层。在栅极绝缘层、源极和漏极上沉积钝化层,通过第三次光刻工艺形成导电过孔。在钝化层上沉积透明导电层,通过第四次光刻工艺形成像素电极。在钝化层上涂覆遮光层,遮光层至少覆盖沟槽区,解决了现有的阵列基板制造工艺复杂,制造成本较高的问题。
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种阵列基板的制造方法及阵列基板。
背景技术
液晶显示面板具有机身薄、省电、无辐射等众多优点,被广泛的应用于电视、电脑、手机等电子产品中。液晶显示面板通常包括阵列基板(TFT基板)、与该阵列基板相对的彩膜基板(CF基板)以及夹设于该阵列基板和彩膜基板之间的液晶层,其中,阵列基板上设置有呈矩阵式排列的薄膜晶体管(Thin FilmTransistor,TFT),彩膜基板上通常设置有用于滤光的彩色色阻层、用于遮光及防止不同颜色光混色的黑色矩阵(Black Matrix,BM)、以及用于支撑阵列基板和彩膜基板之间的液晶层盒厚(Cell Gap)的光阻间隔物(Photo Spacer,PS)。
目前,现有的阵列基板的制造方法主要包括六次光刻工艺,第一步,首先在衬底基板上沉积金属层,进行第一次光刻以形成栅极;第二步,依次沉积栅极绝缘层和铟镓锌氧化物IGZO半导体层,进行第二次光刻以形成有源层;第三部,沉积刻蚀阻挡层,并进行第三次光刻;第四步,沉积源漏极金属层,进行第四次光刻以形成源极、漏极以及沟道区;第五步,沉积钝化层和平坦层,进行第五次光刻以形成导电过孔;第六步,沉积透明导电薄膜,并进行第六次光刻,以形成像素电极以及使导电过孔和像素电极的连通图形。
上述现有的阵列基板制造工艺需进行六次光刻,工艺复杂,使阵列基板制造成本较高。
发明内容
本发明提供一种阵列基板的制造方法及阵列基板,以解决现有的阵列基板制造工艺复杂,制造成本较高的问题。
本发明提供一种阵列基板的制造方法,包括:
在衬底基板上沉积栅金属层,通过第一次光刻工艺,使所述栅金属层形成栅极;
在所述衬底基板和所述栅极上依次沉积栅极绝缘层、金属氧化物层、刻蚀阻挡层和源漏金属层,通过第二次光刻工艺,使所述金属氧化物层和所述刻蚀阻挡层形成有源岛,同时所述源漏金属层形成源极和漏极,并在所述源极和所述漏极之间形成沟槽区,且所述沟槽区延伸到所述刻蚀阻挡层;
在所述栅极绝缘层、所述源极和所述漏极上沉积钝化层,通过第三次光刻工艺,在所述漏极上方的所述钝化层上形成导电过孔;
在所述钝化层上沉积透明导电层,通过第四次光刻工艺,使所述透明导电层形成像素电极,所述像素电极通过所述导电过孔与所述漏极电连通;
在所述钝化层上涂覆遮光层,且所述遮光层至少覆盖所述沟槽区。
在本发明的具体实施方式中,还包括:
在所述钝化层上涂覆遮光层之后,通过第五次光刻工艺,使所述遮光层形成主间隔物。
在本发明的具体实施方式中,还包括:
在所述钝化层上涂覆遮光层时,在栅极线对应的所述像素电极上涂覆遮光层;
通过第五次光刻工艺,使所述沟槽区对应的所述遮光层形成子间隔物,所述栅极线对应的所述遮光层形成主间隔物。
在本发明的具体实施方式中,所述第二次光刻工艺具体包括:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造