[发明专利]图像采集方法、残影衰减参数测定系统、图像采集装置、电子设备及计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 201911009562.1 申请日: 2019-10-23
公开(公告)号: CN110740230A 公开(公告)日: 2020-01-31
发明(设计)人: 冯继雄;田志民;王长海;李保梁;陈子轩;陈世林;刘小宁;宋子明 申请(专利权)人: 北京集创北方科技股份有限公司
主分类号: H04N5/217 分类号: H04N5/217
代理公司: 11449 北京成创同维知识产权代理有限公司 代理人: 蔡纯;刘静
地址: 100176 北京市大*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 残影衰减 帧周期 采集 图像 计算机可读存储介质 固定时间间隔 图像采集装置 参数测定 电子设备 图像采集 有效信号 残影 去除
【说明书】:

发明公开了一种图像采集方法,包括:在第一帧周期中采集第一图像;在第二帧周期中采集第二图像;获得固定时间间隔的残影衰减参数;根据所述残影衰减参数对所述第二图像进行处理,获得第二帧周期的有效信号。本发明还公开了一种残影衰减参数测定系统、图像采集装置、电子设备及计算机可读存储介质,可以去除图像的残影,使采集到的信号更加明显,同时也使得采集更加高效。

技术领域

本发明涉及图像采集技术领域,具体涉及一种图像采集方法、残影衰减参数测定系统、图像采集装置、电子设备及计算机可读存储介质。

背景技术

随着电子终端技术的发展,手机、平板电脑、手提电脑等智能电子终端的普及率越来越高。由于这些电子设备中大都存储有用户的各类信息,因此安全性问题越来越受到人们的重视,解锁技术由此得到了较大的发展。

屏下图像采集技术是当前较为流行的解锁技术之一,主要通过显示屏玻璃下方的采集模块,完成图像采集及解锁过程。

图1(a)示出现有图像采集时的结构俯视图,图1(b)示出现有图像采集时的结构侧视图,如图1(a)和图1(b)所示,将手指按压设备10以采集图像,设备10包括堆叠排列的屏幕11和传感器12。在进行图像采集时,需要借助OLED/TFT-LCD屏幕作为光源。同时为了扩大采图面积,或增加图像质量,往往需要在一次手指按压屏幕11时采集多幅图像,图1(c)示出现有图像采集时的图像采集结果示意图,由于传感器12如CMOS/CCD内部存在等效电容,会导致在连续采图时存在图像残影,如图1(c)所示,在某一帧采集的图像中,通常会包括当前帧采集的图像,和前几帧采集的图像的残影图像,如第一帧周期中包括采集到的有效图像A,在第二帧周期中包括采集到的有效图像B和第一帧周期采集图像A的残影,在第三帧周期中包括采集到的有效图像C以及第一帧周期采集图像A的残影和第二帧周期采集图像B的残影。而这些采集残影会影响图像的有效信息采集,使得图像的采集质量下降,导致解锁不成功,影响用户体验。

因此,有必要提供改进的技术方案以克服现有技术中存在的以上技术问题。

发明内容

为了解决上述技术问题,本发明提供了一种图像采集方法、残影衰减参数测定系统、图像采集装置、电子设备及计算机可读存储介质,可以去除图像的残影,使采集到的信号更加明显,同时也使得图像采集更加高效。

根据本发明提供的一种图像采集方法,包括:在第一帧周期中采集第一图像;在第二帧周期中采集第二图像;获得固定时间间隔的残影衰减参数;根据所述残影衰减参数对所述第二图像进行处理,获得第二帧周期的有效信号。

优选地,获得固定时间间隔的残影衰减参数的方法包括:在无光环境下以固定的时间间隔连续采集多个图像,获得第一图像集;根据所述第一图像集获取所述残影衰减参数。

优选地,所述残影衰减参数为残影衰减系数。

优选地,根据第一图像集获取残影衰减系数包括:计算所述第一图像集中每个图像的灰度平均值,获得第一集合;计算所述第一集合中相邻图像的灰度平均值的比值,获得第二集合;去除所述第二集合中的最小值和最大值后计算所述第二集合的平均值,以获取所述残影衰减系数。

优选地,获得第二帧周期的有效信号包括:由所述第二图像减去所述第一图像与所述残影衰减系数的乘积。

优选地,所述残影衰减参数为残影衰减曲线。

优选地,根据第一图像集获取残影衰减曲线包括:计算所述第一图像集中每个图像的灰度平均值,获得第一集合;根据所述第一集合获得第三集合和第四集合;将以所述第三集合中的数值为横坐标、以所述第四集合中的数值为纵坐标的点绘制在同一二维坐标系中,依次连接以获取所述残影衰减曲线。

优选地,获得第二帧周期的有效信号包括:以第一图像的每个像素点的灰度值作为横坐标,获取所述残影衰减曲线上相应纵坐标的值;由所述第二图像减去所述纵坐标的值,获得第二帧周期的有效信号。

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