[发明专利]一种气溶胶粒子粒径检测方法

权利要求书

1.一种气溶胶粒子粒径检测方法，其特征在于，所述方法采用气溶胶粒子粒径检测装置实现，所述气溶胶粒子粒径检测装置包括：

进气管(1)，用作预定粒径范围的粒子通道，所述进气管(1)的出口端(11)为锥形结构；

光学检测室(2)，为气密结构，所述光学检测室(2)的顶部与所述进气管(1)的出口端相连通，所述光学检测室(2)的侧壁上设置有光学窗口用于光束的传输和检测；

出气管(3)和气泵，所述出气管(3)的第一端与所述光学检测室(2)的底端相连通，所述出气管(3)的第二端与所述气泵的进气口相连通；

光源(4)，设置在所述光学检测室(2)的第一光学窗口(21)处，用于发射预定光脉冲宽度W的激发光束；

消光陷阱(5)，设置在所述光学检测室(2)的第二光学窗口(22)处，与所述光源(4)相对设置，用于吸收激发光束；

光电探测器(6)，设置在所述光学检测室(2)的第三光学窗口(23)处，用于粒子粒径尺寸计算；

所述方法包括：

启动所述气泵，令气体通过进气管(1)进入光学检测室(2)形成气路；

开启所述光源(4)和所述光电探测器(6)，获取所述光电探测器(6)的计算结果；

其中，所述光电探测器(6)计算的粒径D与所述激发光束的预定光脉冲宽度W满足如下关系：

D＝a₀+a₁W+a₂W²+…+a_iWⁱ

式中，a₀、a₁、a₂…a_i为标定系数，i为大于1的正整数。

2.如权利要求1所述的气溶胶粒子粒径检测方法，其特征在于，所述气溶胶粒子粒径检测装置还包括：

光束整形系统(7)，用于将所述光源(4)发出的激发光束整形并汇聚投射到所述光学检测室(2)中的粒子穿梭路径上。

3.如权利要求2所述的气溶胶粒子粒径检测方法，其特征在于，所述光束整形系统整形后的光束在粒子穿梭路径上的光斑尺寸为10～200μm。

4.如权利要求1所述的气溶胶粒子粒径检测方法，其特征在于，所述进气管(1)的输入端设置有气体过滤装置和粒径切割装置，用于过滤及切割气体中的粒子，形成预定粒径范围的粒子通道。

5.如权利要求1所述的气溶胶粒子粒径检测方法，其特征在于，所述进气管(1)的出口端(11)的出口直径为0.8～1.5mm，出口锥度为1.6～2.4。