[发明专利]物件表面可能缺陷的影像检测扫描方法及其系统

说明书

一种物件表面可能缺陷的影像检测扫描方法及其系统，所述物件表面可能缺陷的影像检测扫描方法包含：以感光元件根据一测试光线撷取测试影像、以处理器根据测试影像判断感光元件的一设定参数是否正常、当设定参数异常时，产生警示信号、当设定参数正常时，执行检测程序、在检测程序中依序位移所述物件沿其表面的延伸方向划分的若干个表面区块中之一至检测位置，以光源组件在检测程序中提供一检测光线照射检测位置、以及以感光元件在检测程序中根据检测光线撷取依序位于检测位置上的各表面区块的检测影像。借此，利用人工神经网络系统根据所撷取到的物件的物件影像进行深度学习而建立用以辨识并分类物件的不同表面型态的预测模型。

【技术领域】

本案是关于一种物件表面可能缺陷的影像检测扫描方法及其影像检测扫描系统。

【背景技术】

产品的缺陷检测是工业生产程序中极为重要的一环，具有缺陷的产品并无法贩售，或者，若具有缺陷的中间产品贩售给其他厂商进行加工，将造成最终的产品无法工作。现有的缺陷检测方法的其中之一是人工以肉眼观察或以双手触摸待检测的产品，以判定产品是否具有缺陷，例如凹坑、划痕、色差、缺损等，然而，以人工方式检测产品是否具有缺陷的效率较差，且极容易发生误判的情形，如此将造成产品的良率无法控管的问题。

【发明内容】

本案提供一种物件表面可能缺陷的影像检测扫描系统，包含驱动组件、光源组件、感光元件及处理器。驱动组件承载所述物件，物件的表面沿一延伸方向划分为若干个表面区块，且驱动组件依序位移若干个表面区块的其中之一至一检测位置。光源组件面向检测位置配置，提供一检测光线以照射检测位置，且相对于位于检测位置的表面区块的一正向法线，检测光线的一光入射角小于或等于90度。感光元件面向检测位置配置，撷取依序位于检测位置上的表面区块的检测影像，且在撷取表面区块的检测影像前根据一测试光线撷取一测试影像，其中感光元件的一感光轴平行于正向法线或介于正向法线与延伸方向之间。处理器耦接感光元件，根据测试影像判断感光元件的一设定参数是否正常，当设定参数异常且感光元件已执行相应设定参数的一调校作业时，处理器产生一警示信号。

本案提供一种物件表面可能缺陷的影像检测扫描方法，包含以一感光元件根据一测试光线撷取一测试影像、以一处理器根据测试影像判断感光元件的一设定参数是否正常、当设定参数异常时，产生一警示信号、当设定参数正常时，执行一检测程序、以一驱动组件在检测程序中依序位移所述物件沿其表面的一延伸方向划分的若干个表面区块中之一至一检测位置，以面向检测位置的一光源组件在检测程序中提供一检测光线，其中相对位于检测位置的表面区块的一正向法线，检测光线以小于或等于90度的一光入射角照射检测位置、以感光元件在检测程序中面向检测位置，其中感光元件的一感光轴平行于正向法线或介于正向法线与延伸方向之间、以及以感光元件在检测程序中根据检测光线撷取依序位于检测位置上的各表面区块的一检测影像。

【附图说明】

图1为根据本案的物件表面可能缺陷的影像检测扫描系统的一实施例的示意图。

图2为图1的物件表面可能缺陷的影像检测扫描系统的一实施例的功能方框图。

图3为图1的物件、光源组件及感光元件之间于光学上的相对位置的一实施例的示意图。

图4为图1的物件、光源组件及感光元件之间于光学上的相对位置的另一实施例的示意图。

图5为图1的物件、光源组件及感光元件之间于光学上的相对位置的另一实施例的示意图。

图6为根据本案的物件表面可能缺陷的影像检测扫描方法的一实施例的流程图。

图7为相应于图1的物件的一预设表面缺陷的一实施例的示意图。

图8为根据本案的物件表面可能缺陷的影像检测扫描系统的另一实施例的示意图。

图9为图7的物件、光源组件及感光元件之间于光学上的相对位置的一实施例的示意图。