[发明专利]基于MFAC算法进行遍历测试的系统及方法

说明书

本发明公开了基于MFAC算法进行遍历测试的系统及方法。涉及软件测试领域，其中，系统包括：用于触发待测控件列表中待测控件，以完成待测控件列表遍历测试的遍历测试触发模块、用于采集经过遍历测试触发模块触发后，当前待测控件列表中待测控件坐标信息的数据采集模块、用于根据MFAC算法预测崩溃空间坐标的预测控制模块和用于输出下一时刻待测控件至遍历测试触发模块进行触发控件的输出模块。实现在每一时刻通过MFAC算法预测能够触发崩溃的控件作为下一时刻的待测控件，形成发现崩溃数最多的遍历路径，避免了人工规划遍历路径导致的测试效率低而测试维护成本高的问题，提高了遍历测试效率以及控件的优化效果。

技术领域

本发明涉及软件测试领域，尤其是一种基于MFAC算法进行遍历测试的系统及方法。

背景技术

在自动化测试领域中，遍历测试现已普遍应用于各类测试之中，并且发挥着重要的作用。遍历测试应当尽可能的去发现被测应用或控件运行过程中出现的Crash(崩溃)，最大程度发挥其作用。在遍历测试过程中，遍历测试的路径对测试结果影响较大，如果测试路径覆盖度高且选择合理，则能够触发待测控件的更多崩溃情况，对崩溃情况进行修复的过程即优化控件的过程，因此选择合理的遍历测试路径，以尽可能多触发崩溃情况在遍历测试过程中非常重要。但是由于很多控件测试时，需要人工去选择待测控件的测试顺序以适配测试路径和参数，导致测试效率较低而测试维护成本非常高。因此通过控制算法预测遍历过程中每一时刻能够触发崩溃的控件，并根据预测结果生成遍历测试路径进行遍历测试是很有必要的。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的目的是提供一种根据MFAC算法预测遍历过程中每一时刻能够触发崩溃的控件，并根据预测结果进行遍历测试的系统及方法。

本发明实施例所采用的技术方案是：

第一方面，本发明实施例提供一种基于MFAC算法进行遍历测试的系统，包括：

遍历测试触发模块：用于触发待测控件列表中待测控件，以完成所述待测控件列表的遍历测试；

数据采集模块：用于采集经过所述遍历测试触发模块触发后，当前待测控件列表中待测控件坐标信息，所述待测控件坐标信息为待测控件的中心坐标；

预测控制模块：用于接收所述待测控件坐标信息并MFAC算法预测新增控件崩溃数、崩溃坐标信息以及下一时刻待测控件；

控件输出模块：用于将下一时刻待测控件发送至所述遍历测试触发模块进行触发，所述下一时刻待测控件为所述崩溃坐标信息对应的待测控件列表中待测控件。

进一步地，所述MFAC算法为无模型自适应控制算法，根据MFAC算法预测的具体预测过程为：

根据所述遍历测试触发模块的触发顺序，采集被触发的待测控件坐标信息；

利用所述MFAC算法，根据所述被触发的待测控件坐标信息，预测新增控件崩溃数和崩溃坐标信息；

选择使新增控件崩溃数达到预设崩溃次数的崩溃坐标信息，并以崩溃坐标信息对应的待测控件作为下一时刻待测控件。

进一步地，所述预设崩溃次数为1。

进一步地，根据所述遍历测试触发模块的触发待测控件列表中待测控件顺序生成遍历路径。

进一步地，还包括：数据采集模块在每一时刻获取当前控件崩溃数，用于遍历测试过程中崩溃数量统计。

第二方面，本发明实施例还提供一种基于MFAC算法进行遍历测试的方法，应用于如第一方面任一项所述的一种基于MFAC算法进行遍历测试的系统，包括：

触发待测控件列表中待测控件；

采集经过触发之后，当前待测控件列表中待测控件坐标信息；