[发明专利]一种基于激光连续波调制原理的平板玻璃质量检测方法

说明书

本发明公开了一种基于激光连续波调制原理的平板玻璃质量检测方法，包括图像采集模块、图像预处理、边缘提取、格雷码图像编码与解码和基线方法估算平板玻璃正、反面表面点。采集红外图像以及深度数据；对采集到的图像进行预处理；对被测平板玻璃的边缘进行提取；对格雷码图像进行编码与解码，得到被测平板玻璃正面表面点以及参考光线方向；对相机进行标定，得到相机光线方向；根据基线方法估算平板玻璃正、反面表面对应的某一组点，可得到平板玻璃厚度的测量结果，同时分别估算正、反面表面所有的点，即得到平板玻璃正、反面的三维形貌，从而可以分别测量正、反面表面的缺陷以及缺陷尺寸。本发明能使平板玻璃厚度测量和缺陷尺寸的结果更加精确。

技术领域

本发明属于产品质量检测领域，具体涉及一种基于激光连续波调制原理的平板玻璃质量检测方法。

背景技术

平板玻璃厚度是平板玻璃生产过程中一项很重要的品质指标，很多板材对板面平整度、厚度、是否存在缺陷有很高的要求，对于尺寸较小的板材，常用厚度千分尺或接触式测厚仪等测量工具，存在的缺点是平板玻璃与测量工具之间有相对滑动，易造成平板玻璃表面划伤，并且需要人工读数，误差较大。另外，接触式测厚仪的传感器探头也有一定的磨损，需要经常重新标定并定期更换探头。而对于尺寸规格大的板材来说，利用激光三角法和干涉法，可实现非接触测量，但是实际测量过程中受各种因素影响，比如抖动等，使得测量精度仍旧会受到很大的影响。

考虑上述因素，本发明提供一种基于激光连续波调制原理的平板玻璃质量检测方法。当光穿过平板玻璃时，光速会因为介质折射率的变化而产生变化，因此利用这种变化，结合激光连续波调制原理，估算平板玻璃厚度的问题可以通过估计正、反面表面点来解决，从而可以得到该平板玻璃的三维点云以及存在缺陷情况。操作简单，不需要额外的照明装置，在镜头上配备偏振片，能有效降低环境干扰，测量精度较高，能使得平板玻璃的质量检测结果更加精确。

发明内容

本发明提供一种基于激光连续波调制原理的平板玻璃质量检测方法，其能够通过刻画正、反面表面点来估算平板玻璃厚度的，从而可以得到该平板玻璃的三维点云以及存在缺陷情况，操作简单，不需要额外的照明装置，能有效降低环境干扰，测量精度较高。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种基于激光连续波调制原理的平板玻璃质量检测方法，包括图像采集模块、图像预处理、边缘提取、格雷码图像编码与解码和基线方法估算平板玻璃正、反面表面点；

所述步骤1用于通过图像采集模块利用深度相机采集红外图像和深度数据并存储在计算机中，红外图像包含格雷码图像和标定相机所需的棋盘图像；

所述步骤2用于对采集到的红外图像进行平滑和去噪处理；

所述步骤3用于对采集到的红外图像中的有效区域即被测平板玻璃区域进行边缘提取，缩短程序的处理时间；

所述步骤4用于对采集到的红外图像进行格雷码的编码与编码，得到失真三维点，从而得到参考光线方向；

所属步骤5用于对图像采集设备的标定，得到相机光线方向；

所述步骤6用于通过基线方法估算平板玻璃正、反面表面点方法，根据相机光线方向、参考光线方向以及被测物体反面表面点，结合基线方法估算平板玻璃正、反面表面点，从而得到平板玻璃厚度的测量结果。

一种基于激光连续波调制原理的平板玻璃质量检测方法，包括以下步骤：

步骤1，通过图像采集模块利用深度相机采集红外图像和深度数据并存储在计算机中，红外图像包含格雷码图像和标定相机所需的棋盘图像；

步骤2，对采集到的图像进行平滑和去噪处理；

步骤3，通过采集到的红外图像中的有效区域即被测平板玻璃区域进行边缘提取，缩短程序的处理时间；