[发明专利]一种探针压力自动控制系统在审

专利信息
申请号: 201910980119.2 申请日: 2019-10-15
公开(公告)号: CN110941210A 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: 马会林;黄嘉;左双龙;廖颖;杨明强;何家福;叶武海;洪斌;刘成极;张华夏;魏贤哲;顾郧;张红江;尹建刚;高云峰 申请(专利权)人: 大族激光科技产业集团股份有限公司
主分类号: G05B19/042 分类号: G05B19/042
代理公司: 深圳市世联合知识产权代理有限公司 44385 代理人: 汪琳琳
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 探针 压力 自动控制系统
【说明书】:

发明涉及一种探针压力自动控制系统,利用压力传感器实时探测探针的位移量并转化为探针位移的电压信号,信号处理电路将该探针位移的电压信号放大滤波并传输至控制电路,控制电路将上述放大后的探针位移的电压信号转换为上位机可识别的数字信号,并通过上位机来控制电机的运作,从而自动控制探针压力大小。其中,信号处理电路与压力传感器相连,包括信号放大器和第一电压跟随器;控制电路连接于信号处理电路与上位机之间,包括单片机和模数转换器。其中,电机连接于上位机与电压传感器之间,上位机识别到探针位移的电压信号超出预先设定的探针压力范围时,则控制所述电机的行进力度,从而调整探针的位移量进而控制探针压力大小。

技术领域

本发明涉及工业自动化检测领域,尤其涉及一种LED芯片测试探针压力自动控制系统。

背景技术

现代社会生活中,半导体的发展十分迅猛。其中,LED芯片的发展尤其突出,在生产LED芯片过程中,必然需要对其进行点测。而LED芯片是精密器件,点测的时候需要很严格的控制探针扎到芯片上的压力,压力过大会把芯片扎坏,太小又有可能扎不好,导致接触不良,测试数据异常。

传统的探针压力控制系统采用人工调整弹性元件,例如:记忆弹片的松紧程度,进而调整探针的针压,这样的做法效率低,时间长,容易出错,成本高,调节十分不便。因此,需要设计一款新型探针压力自动控制系统,能精确有效的控制针压,提高生产效率。

发明内容

为了解决上述问题,本发明实施例提出一种探针压力自动控制系统,可以解决现有系统人工调整的效率低、易出错、成本高以及不便利的问题。

为了解决以上提出的问题,本发明实施例提供了如下所述的技术方案:

一种探针压力自动控制系统,利用压力传感器实时探测探针的位移量并转化为探针位移的电压信号,并通过上位机来控制电机的运作,从而自动控制探针压力大小,其特征在于,所述探针压力自动控制系统包括:

信号处理电路,与所述压力传感器相连,用于过滤并放大所述探针位移的电压信号,包括:

信号放大器,与所述压力传感器相连,用于将接收到的探针位移的电压信号进行放大;以及

第一电压跟随器,其同向输入端与所述信号放大器的输出端相连,反向输入端与输出端相连,其输出端作为所述信号放大电路的输出端,当所述探针位移的电压信号瞬间剧烈变化时,保证输出端输出稳定的放大后的探针位移的电压信号,起到隔离缓冲的作用;以及

控制电路,连接于所述信号处理电路与上位机之间,包括:

单片机,与所述第一电压跟随器的输出端相连,用于读取所述放大后的探针位移的电压信号,并对其进行存储和处理;以及

模数转换芯片,连接于所述单片机与所述上位机之间,用于将其处理后的探针位移的电压信号进行模数转换,使其可以被所述上位机所识别;

其中,所述电机连接于所述上位机与所述电压传感器之间,所述上位机识别到探针位移的电压信号超出预先设定的探针位移范围时,则控制所述电机的行进力度,从而调整探针的位移量进而控制探针压力大小。

进一步地,还包括电源电路,与所述压力传感器、所述信号处理电路以及所述控制电路相连,用于将外部电源信号转换为各个电路所需要的电压信号,所述电源电路包括:

第一滤波整流电路,将接收到的外部电源信号进行滤波整流,并输出滤波整流后的电源信号;

第一电压转换电路,与所述第一滤波整流电路相连,用于将滤波整流后的电源信号进行电压转换,并输出给所述信号处理电路;

第二电压转换电路,与所述第一滤波整流电路相连,用于将滤波整流后的电源信号进行电压转换,并输出给所述控制电路;以及

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