[发明专利]毫米波信号的通信路径确定方法、测量装置及测量控制器有效
申请号: | 201910962647.5 | 申请日: | 2019-10-11 |
公开(公告)号: | CN112243192B | 公开(公告)日: | 2023-05-26 |
发明(设计)人: | 翁国执 | 申请(专利权)人: | 深圳富泰宏精密工业有限公司;群迈通讯股份有限公司 |
主分类号: | H04W4/02 | 分类号: | H04W4/02;H04W40/02;H04W64/00;H04W76/10 |
代理公司: | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人: | 孙芬;李艳霞 |
地址: | 518109 广东省深圳市龙华新区龙*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 毫米波 信号 通信 路径 确定 方法 测量 装置 控制器 | ||
1.一种测量装置,所述测量装置与测量控制器及第二测量装置通信连接,其特征在于,所述测量装置包括全向性天线、阵列天线、第一天线及处理器,所述处理器分别与所述全向性天线、所述阵列天线、所述第一天线连接,所述处理器用于:
通过所述第一天线向所述测量控制器发送包含所述测量装置的位置的第一测试请求信号;
通过所述第一天线接收所述测量控制器发送的第一测试指令并根据所述第一测试指令控制所述测量装置的全向性天线发送毫米波信号给所述第二测量装置;所述第二测量装置的阵列天线接收所述测量装置通过所述测量装置的全向性天线发送的毫米波信号,并根据接收的毫米波信号的信号强度确定至少一所述毫米波信号的波束的第一入射角;
通过所述测量装置的第一天线接收所述测量控制器发送的第三测试指令并根据所述第三测试指令控制所述测量装置通过阵列天线分别以不同的发射角度发送毫米波信号给所述第二测量装置;
接收所述测量控制器发送的第一时间段及第一信号强度,根据所述第一时间段及第一信号强度确定与所述第一时间段对应的第一发射角,并将所述第一发射角发送给所述测量控制器,其中,所述第一信号强度为所述第二测量装置以至少一固定的第一入射角接收到所述测量装置通过阵列天线以不同发射角度发送的毫米波信号时,信号强度超过信号强度阈值的毫米波信号所对应的信号强度,所述第一时间段为所述第二测量装置的阵列天线从扫描接收所述测量装置发送的毫米波信号开始到接收到所述毫米波信号的信号强度为所述第一信号强度的时间;
根据所述测量控制器发送的第五测试指令控制所述测量装置的阵列天线以所述第一发射角向所述第二测量装置发送毫米波信号,并进行计时;
所述测量装置接收到所述第二测量装置的回馈信号时停止计时得到一第一计时时间,并将所述第一计时时间发送给所述测量控制器;及
查找列表,并通过所述测量装置的阵列天线以与传输环境为视线传输对应的第一发射角发射毫米波信号给第二测量装置,所述列表存储有所述测量装置的位置、所述第二测量装置的位置、所述第二测量装置的第一入射角、所述测量装置的第一发射角、所述测量装置与所述第二测量装置之间的传输环境建立对应关系。
2.如权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述处理器还用于:
接收所述测量控制器发送的第二测试指令并根据所述第二测试指令控制所述测量装置的阵列天线接收所述第二测量装置通过所述第二测量装置的全向性天线发送的毫米波信号,并根据接收的毫米波信号的信号强度确定至少一所述毫米波信号的波束的第二入射角并将所述测量装置的位置信息及至少一第二入射角发送给所述测量控制器。
3.如权利要求2所述的测量装置,其特征在于,所述处理器还用于:
根据所述测量控制器发送的所述第二测试指令控制所述测量装置的阵列天线的四个扇区中的扇区天线在预设循环扫描时间内进行扫描并以不同的入射角度接收所述第二测量装置发送的毫米波信号,并将接收的所述毫米波信号的信号强度超过信号强度阈值时所对应的入射角度确定为第二入射角并将所述第二入射角及所述测量装置的位置发送给所述测量控制器。
4.如权利要求3所述的测量装置,其特征在于,所述处理器还用于:
通过所述测量装置的第一天线接收所述测量控制器发送的第四测试指令,并根据所述第四测试指令控制所述测量装置通过所述测量装置的阵列天线分别以每一第二入射角接收所述第二测量装置通过所述第二测量装置的阵列天线发送的毫米波信号;及
判断接收到的所述毫米波信号的信号强度是否超过所述信号强度阈值,若接收的所述毫米波信号的信号强度超过信号强度阈值时记录当前的第二时间段及第二信号强度,并将所述二时间段及所述第二信号强度发送给所述测量控制器。
5.如权利要求4所述的测量装置,其特征在于,所述处理器还用于:
接收所述测量控制器发送的第六测试指令,并根据所述第六测试指令控制所述测量装置的阵列天线以所述第二入射角接收所述第二测量装置发送的毫米波信号,并在接收到所述第二测量装置发送的毫米波信号后通过所述测量装置的阵列天线发送一回馈信号给所述第二测量装置。
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