[发明专利]基于固态点源模拟短寿命气态源的符合探测效率刻度方法

权利要求书

1.一种基于固态点源模拟短寿命气态源的符合探测效率刻度方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤A，确定代替气体源的固态标准点源，该固态标准点源发出的射线与所述气体源发出的射线性质相同；

步骤B，将取样容器划分为若干个小体积元；

步骤C，依次将固态标准点源放在各小体积元的中心，并计算固态标准点源在每个小体积元处时的符合探测效率；

步骤D，对各小体积元处的符合探测效率进行加权求和，得到整个取样容器的符合探测效率；

所述步骤D中，

固态标准点源在第i个小体积元处的符合探测效率在整个测量系统中占有的权重因子为：其中，S_i为第i个小体积元的体积，S为取样容器的容积；

整个取样容器的符合探测效率为：

其中，m为小体积元的总数，ε_i为固态标准点源在第i个小体积元处时的符合探测效率。

2.如权利要求1所述的基于固态点源模拟短寿命气态源的符合探测效率刻度方法，其特征在于，所述步骤C中，

固态标准点源在第i个小体积元处时的符合探测效率ε_i为：

其中，n_rc为在没有放射源的情况下，探测系统正常工作时测量探测器本身以及环境所产生射线形成的偶然符合计数，n_ic为固态标准点源放在第i个小体积元的中心处后，在探测系统正常工作时取样容器内两个探测器形成的信号符合，A为固态标准点源的活度。