[发明专利]一种基于双能X射线的图像识别处理方法及控制系统

权利要求书

1.一种基于双能X射线的图像识别处理方法，其特征在于，包括：

S1、将矿石通过输送装置输至双能X射线扫描辐射区域，得到高能投影数据图和低能投影数据图图；

S2、对所述高能投影数据图和低能投影数据图进行双能分解，得到矿石分解系数，利用最小二乘法对所述矿石分解系数进行拟合获得极小值点，利用极小值点获得极小值；

S3、将该基材料分解系数作为初值，计算被检查物体的每个像素的等效原子序数和电子密度；

S4、根据每个像素的等效原子序数和电子密度，计算光电效应所对应的质量衰减系数，利用光电效应所对应的质量衰减系数；

S5、根据所述质量衰减系数计算得到、等效原子序数和电子密度得到矿石的分布图。

2.根据权利要求1所述的基于双能X射线的图像识别处理方法，其特征在于，双能X射线通过一体式X射线发生器发出，该X射线发生器的出口形状为扇形，在该一体式X射线发生器出口处安装有朝下开有扇形口的准直器。

3.根据权利要求2所述的基于双能X射线的图像识别处理方法，其特征在于，所述扇形的最大辐射扇形角度范围为80～150°。

4.根据权利要求1所述的基于双能X射线的图像识别处理方法，其特征在于，通过X射线接收探测模块得到高能投影数据图和低能投影数据图图。

5.一种应用于权利要求1至4中任一权利要求的基于双能X射线的图像识别处理的控制系统，其特征在于，包括：

控制器；

高能投影模块，用于发出高能X射线并扫描矿石区域；

低能投影模块，用于发出低能X射线并扫描矿石区域；

接收模块，用于接受穿透过矿石的高能X射线和低能X射线；

处理模块，用于计算得到等效原子序数和电子密度得到矿石的分布图；

显示模块，用于显示计算得到的数据信息。

所述高能投影模块、低能投影模块、接受模块、处理模块、显示模块均与控制器连接。