[发明专利]一种镍酸锂离子储存层及其制备方法在审
申请号: | 201910954701.1 | 申请日: | 2019-10-09 |
公开(公告)号: | CN112649997A | 公开(公告)日: | 2021-04-13 |
发明(设计)人: | 包山虎;朱莹;金平实;黄爱彬 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
主分类号: | G02F1/1523 | 分类号: | G02F1/1523;C23C14/35;C23C14/08 |
代理公司: | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人: | 曹芳玲;郑优丽 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 锂离子 储存 及其 制备 方法 | ||
1.一种镍酸锂离子储存层,其特征在于,所述镍酸锂离子储存层为镍酸锂薄膜,且薄膜内部锂离子沿薄膜厚度方向以0~50at%的浓度梯度分布。
2.根据权利要求1所述的镍酸锂离子储存层,其特征在于,所述镍酸锂离子储存层的厚度为50~500 nm。
3.根据权利要求1或2所述的镍酸锂离子储存层,其特征在于,按照所述镍酸锂离子储存层中锂离子的浓度计算,所述镍酸锂离子储存层包括富锂层和贫锂层;所述富锂层中锂离子的浓度20~50at%,所述贫锂层中锂离子的浓度为0~20at%。
4.根据权利要求3所述的镍酸锂离子储存层,其特征在于,所述富锂层的厚度为不超过100 nm;所述贫锂层的厚度不超过400 nm。
5.一种如权利要求1-4中任一项所述的镍酸锂离子储存层的制备方法,其特征在于,选用镍酸锂陶瓷作为靶材,采用直流磁控溅射法在基材表面沉积所述镍酸锂离子储存层;所述镍酸锂陶瓷的化学组成为LixNiyOz,其中x:y:z=(1~1.2):(1~1.2):(1.5~2.5)。
6.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述直流磁控溅射法的参数包括:保持本底真空≤10-4 Pa;溅射气体为氩气和氧气,总压强为0.5~2.0 Pa,氧分压占0~50%;靶材与基材的垂直距离为10~20 cm;沉积温度为15~300℃;施加在所述靶材上的直流电源功率为30~200 W或者功率密度为0.6~4.4 W/cm2;沉积时间为10~60 分钟。
7.根据权利要求5或6所述的制备方法,其特征在于,在沉积所述镍酸锂离子储存层之前,将靶材进行预溅射处理;所述预溅射处理的参数包括:直流电源功率30~200 W或功率密度为0.6~2.2W/cm2;气氛为氩气;气体压力为0.5~2.0 Pa;时间5~30 min。
8.根据权利要求5-7中任一项所述的制备方法,其特征在于,所述基材为导电电极,优选FTO透明导电电极、ITO透明导电电极、AZO透明导电电极、ATO透明导电电极、Cu金属纳米线电极、Au金属纳米线电极、Ag金属纳米线电极和Al金属纳米线电极中的一种。
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