[发明专利]一种短波射频直采桥式矢量阻抗检测方法有效
| 申请号: | 201910938560.4 | 申请日: | 2019-09-30 |
| 公开(公告)号: | CN110736879B | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
| 发明(设计)人: | 邹晶晶;罗磊 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第三十研究所 |
| 主分类号: | G01R27/04 | 分类号: | G01R27/04 |
| 代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 邓世燕 |
| 地址: | 610000 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 短波 射频 直采桥式 矢量 阻抗 检测 方法 | ||
1.一种短波射频直采桥式矢量阻抗检测方法,其特征在于:包括如下步骤:
步骤一、搭建桥式检测电路,所述桥式检测电路由参考桥接阻抗Z0及信号取样电路构成,所述信号取样电路由取样电阻R1、R2和高速ADC组成,其中R1、R2为纯阻,且R1、R2远大于负载阻抗ZL,两组串联的R1和R2并联在Z0两端,R1、R2将主路射频信号分压取样后送入ADC,ADC完成双路取样信号的同步采样,得到数字信号U0(n)、U1(n);并按如下公式计算负载阻抗值:
其中:|U0|、|U1|为取样信号幅度,为相位差,所述相位差的计算方法为:
(1)按如下公式求相位差绝对值
其中:N为样点数量;
(2)根据U0与U1的超前/滞后关系,确定相位差符号;
步骤二、对耦合电压信号进行射频直接采样,其中为Z0两端射频信号经取样 电阻R1、R2等比例分压后得到的耦合电压信号;
步骤三、通过两路采样信号的幅度和相位信息,计算得到负载阻抗值。
2.根据权利要求1所述的一种短波射频直采桥式矢量阻抗检测方法,其特征在于:所述两路采样信号的幅度通过对样点数据计算均方根值得到。
3.根据权利要求1所述的一种短波射频直采桥式矢量阻抗检测方法,其特征在于:确定相位差符号的方法为:比较极大值点所处的时间轴,先出现极大值的点定义为序列的相位超前点,后出现极大值的点定义为序列的相位滞后点;统计相位超前点数和滞后点数:若相位超前点数多于相位滞后点数,则判定为相位超前,相位差符号为“+”;若相位滞后点数多于相位超前点数,则判定为相位滞后,相位差符号为“-”。
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