[发明专利]在被测设备处监视来自波形发生器的波形

说明书

一种包括信号发生器的测试和测量仪器，该信号发生器被配置为生成将通过线缆发送到被测设备（DUT）的波形和实时波形监视器（RTWM）电路。RTWM被配置为确定线缆的传播延迟，在信号发生器和DUT之间的第一测试点处捕获包括的入射波形和反射波形的第一波形，在信号发生器和DUT之间的第二测试点处捕获包括至少入射波形的第二波形，基于第一波形和第二波形确定反射波形和入射波形，并基于入射波形，反射波形和传播延迟确定DUT波形。DUT波形表示由DUT接收的由信号发生器生成的波形。

相关申请的交叉引用

本申请是2017年7月20日提交的题为MONITORING DEVICE UNDER TEST WAVEFORM ONSIGNAL GENERATOR的美国专利申请序列号15/655,859的部分继续申请，其内容通过引用完全并入本文。

技术领域

本公开一般涉及与信号发生器有关的系统和方法，并且更具体地涉及用于在信号发生器上确定和显示在被测设备（DUT）处从信号发生器接收到的信号的系统和方法。某些实施例可以包括使得任意函数发生器（AFG）用户能够在没有如示波器的额外仪器的情况下监视被测设备（DUT）处的波形的方法，而不是仅仅看到设置在发生器上的理想波形。

背景技术

任意波形和函数发生器（AFG）仪器广泛用于生成用于电子电路设计和测试的信号。AFG生成由被测设备（DUT）接收的信号。通常，AFG仪器在其操作频率范围内具有50欧姆的输出阻抗。当DUT负载阻抗与AFG仪器的输出阻抗不匹配时，DUT处接收的信号不等于同AFG仪器上的用户设置。在某些情况下，这可能会导致DUT损坏，因为DUT接收的信号与AFG仪器发送的信号不同。

常规的任意函数发生器（AFG）在输出路径上设计有一个50欧姆的内部电阻，以能够在负载也为50欧姆的情况下实现负载上的最大输出功率（即阻抗匹配，其广泛用于射频（RF）系统），并且还保护输出路径免于短路。AFG上的设置（例如幅度或形状）通常基于输出通过50欧姆线缆被连接到50欧姆负载的假设。

但是，由于大多数AFG用户不从事RF设计，DUT是模拟或数字电路，其通常不是50欧姆或甚至不是纯电阻（即阻抗不匹配）。在这种情况下，当用户通过50欧姆线缆将AFG输出连接到DUT时，DUT处的波形很可能与AFG上的理想设置（例如，在幅度或甚至形状方面）不同。

如果AFG用户不知道差异，他或她可能会将时间浪费在错误的测试设置和不正确的结果上。这可能导致进度延迟，或最终甚至导致错误的设计和/或产品。并且，即使用户意识到差异，他或她也会需要花时间进行计算以模拟DUT处的波形，或者使用示波器对DUT处的波形进行物理测试。

诸如上文描述的那些常规系统不合期望地导致浪费时间的客户痛点，额外仪器的成本，或者进度延迟/错误设计/有缺陷产品的风险。

根据所公开的技术的实现解决了现有技术中的这些和其他缺陷。

附图说明

本公开的实施例的方面、特征和优点将从参考附图的实施例的以下描述中变得显而易见，在附图中：

图1是连接到被测器件的信号发生器的框图。

图2是通过线缆连接到被测设备的信号发生器的框图。

图3图示了包括任意/函数发生器（AFG）的系统的示例。

图4是根据本公开一些实施例的示例测试和测量仪器的框图。

图5是使用图3的测试和测量仪器确定DUT波形的示例方法的流程图。

图6是第一测试点处的捕获波形的示例。

图7是第二测试点处的捕获波形的示例。

图8是基于图6和图7的波形所确定的波形A的示例。