[发明专利]一种地层反射杂乱程度的刻画方法及系统

权利要求书

1.一种地层反射杂乱程度的刻画方法，其特征在于，包括：

S1、提取三维数据体的倾角和方位角属性；

S2、提取所述三维数据体内任意点Dot(x,y,z)的小三维数据体；

S3、将所述小三维数据体中每一点的倾角和方位角投影到极坐标系；

S4、计算点Dot(x,y,z)到小三维数据体中任意一点Dot(i,j,k)的距离Dis_(i,j,k)：

按照如下公式计算点Dot(x,y,z)到小三维体中点Dot(i,j,k)的距离Dis_(i,j,k)：

其中，Dot(x,y,z)中的x表示线号、y表示道号、z表示时间方向的样点数，(i,j,k)为空间中的坐标点位置，Angle为倾角，Trend为方位角；

S5、计算点Dot(x,y,z)的杂乱度属性：

按照如下公式计算点Dot(x,y,z)的杂乱度属性Disarray_(x,y,z)：

Disarray_(x,y,z)＝∑Dis_(i,j,k)

其中，i的范围为i∈[x-m,x+m]，j的范围为j∈[y-m,y+m]，k的范围为k∈[z-n,z+n]，m取自1～10的任一自然数，n取自1～50的任一自然数。

2.根据权利要求1所述地层反射杂乱程度的刻画方法，其特征在于，所述步骤S5之后，包括：

S6、对于所述三维数据体中的任意一点，重复步骤S2到步骤S5，提取整个三维数据体Cube的杂乱度属性Disarray。

3.根据权利要求1所述地层反射杂乱程度的刻画方法，其特征在于，所述步骤S2具体包括：

以点Dot(x,y,z)为中心，提取(2m+1)*(2m+1)*(2n+1)个样点的倾角和方位角属性，其中2m+1为线和道的数量，2n+1为时间方向的样点数。

4.一种地层反射杂乱程度的刻画系统，其特征在于，包括：

第一提取模块，用于提取三维数据体的倾角和方位角属性；

第二提取模块，用于提取所述三维数据体内任意点Dot(x,y,z)的小三维数据体Cube_Dot(x,y,z)；

投影模块，用于将所述小三维数据体中每一点的倾角和方位角投影到极坐标系；

第一计算模块，用于计算点Dot(x,y,z)到小三维数据体中任意一点Dot(i,j,k)的距离Dis_(i,j,k)：

按照如下公式计算点Dot(x,y,z)到小三维体中点Dot(i,j,k)的距离Dis_(i,j,k)：

其中，Dot(x,y,z)中的x表示线号、y表示道号、z表示时间方向的样点数，(i,j,k)为空间中的坐标点位置，Angle为倾角，Trend为方位角；

第二计算模块，用于计算点Dot(x,y,z)的杂乱度属性：

按照如下公式计算点Dot(x,y,z)的杂乱度属性Disarray_(x,y,z)：

Disarray_(x,y,z)＝∑Dis_(i,j,k)

其中，i的范围为i∈[x-m,x+m]，j的范围为j∈[y-m,y+m]，k的范围为k∈[z-n,z+n]，m取自1～10的任一自然数，n取自1～50的任一自然数。

5.根据权利要求4所述地层反射杂乱程度的刻画系统，其特征在于，所述第二提取模块用于：以点Dot(x,y,z)为中心，提取(2m+1)*(2m+1)*(2n+1)个样点的倾角和方位角属性，其中2m+1为线和道的数量，2n+1为时间方向的样点数。

6.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行的至少一个程序，其特征在于，所述至少一个程序被所述计算机执行时使所述计算机执行上述权利要求1～3任一项所述的方法中的步骤。