[发明专利]一种轴承套圈超声波探伤装置及其探伤方法在审

专利信息
申请号: 201910934157.4 申请日: 2019-09-29
公开(公告)号: CN110530985A 公开(公告)日: 2019-12-03
发明(设计)人: 胡智博;任国强;郭泽策;王艳华;赵儒雪;尉大业;王吒;杨海素;郭天林;王晓雅;曲萌 申请(专利权)人: 中铁检验认证中心有限公司
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N29/265
代理公司: 11714 北京悦和知识产权代理有限公司 代理人: 高倩<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 100081*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 水槽 超声波探头 升降电机 探头支架 从动轮 输出端 主电机 主动轮 超声波探伤装置 圆锥轴承套圈 超声波检测 工厂生产线 检测灵敏度 实验室检测 固定设置 检测设备 圆柱轴承 中心固定 轴承套圈 自动检测 传动带 可调节 球轴承 入射角 外侧壁 探伤 底端 卡盘 可用 贯穿 检测 维护
【说明书】:

发明公开一种轴承套圈超声波探伤装置及其探伤方法,水槽和主电机设置在机架的顶部,主电机的输出端与主动轮的轴心固定连接,传动带套设在主动轮与从动轮的外缘之间,轴贯穿水槽的底部,轴的底端与从动轮的轴心固定连接,轴的顶部在水槽内与对中卡盘的中心固定连接;升降电机固定设置在水槽的外侧壁上,升降电机的输出端与探头支架固定连接,探头支架的末端固定连接超声波探头。本发明适用于实验室检测领域,相对于工厂生产线的检测设备具有占地面积小、造价低、维护成本少的特性,可实现自动检测,超声波探头的入射角度可调节,具有较高的检测灵敏度和检测效率。可用于球轴承、圆柱轴承和圆锥轴承套圈的超声波检测,适用范围广。

技术领域

本发明涉及检测设备技术领域。更具体地,涉及一种轴承套圈超声波探伤装置及其探伤方法。

背景技术

铁路机车车辆轴承是安装于轴箱体内,承受载荷和降低运动过程中摩擦系数的部件,轴承的质量对动车组行车安全有较大影响。

轴承由外圈、内圈、滚子、保持架等部件构成,其中外圈、内圈的超声波检测是轴承质量检测中的重要检测项目。现有的动车组轴承超声波检测设备多用于工厂生产线,由于集成了自动检测、筛选、报警等功能,设备造价昂贵、功率高,占地面积大。对于检测实验室而言,轴承超声波检测设备的许多功能并不实用,而其高昂的费用及维护成本、较高的功率、较大的占地面积也是极大的资源浪费。

如果给便携式超声波设备配备专用的水浸装置便可实现对轴承超声波检测的要求,因此研制轴承超声波检测用水浸装置对于开展动车组轴承超声波检测具有重要的意义。

因此,需要提供一种轴承套圈超声波探伤装置及其探伤方法,具有占地面积小、造价低、维护成本少的特性,可以进行轴承套圈超声波检测。

发明内容

本发明的目的在于是提供一种轴承套圈超声波探伤装置及其探伤方法,采用水槽液浸的方法对轴承套圈进行超声波检测,用于检测球轴承、圆柱轴承和圆锥轴承套圈等的超声波检测。

为达到上述目的,本发明采用下述技术方案:

一种轴承套圈超声波探伤装置,包括机架、水槽、主电机、主动轮、传动带、从动轮、轴、对中卡盘、升降电机、探头支架和超声波探头;所述水槽和主电机设置在机架的顶部,所述主电机的输出端与主动轮的轴心固定连接,所述传动带套设在主动轮与从动轮的外缘之间,所述轴贯穿水槽的底部,所述轴的底端与从动轮的轴心固定连接,所述轴的顶部在水槽内与对中卡盘的中心固定连接;所述升降电机固定设置在水槽的外侧壁上,所述升降电机的输出端与探头支架固定连接,所述探头支架的末端固定连接超声波探头。测试时,主电机驱动主动轮旋转,并通过传动带带动从动轮和轴旋转,从而驱动对中卡盘旋转。待测轴承套圈试样固定在对中卡盘上,最终驱动待测轴承套圈试样旋转。

优选地,所述探头支架包括电机连接竖杆、横杆和探头连接竖杆,所述电机连接竖杆的顶端和探头连接竖杆的顶端分别垂直连接在横杆的两端,所述电机连接竖杆的底部与升降电机的输出端固定连接,所述探头连接竖杆的底部与超声波探头固定连接。升降电机驱动探头支架的电机连接竖杆上下移动,电机连接竖杆带动横杆和探头连接竖杆上下移动,从而驱动超声波探头上下移动。

优选地,所述超声波探头与探头连接竖杆的角度可调节。调节超声波探头的角度,从而调节超声波探头相对于待测轴承套圈试样的入射角度,保证声束垂直入射待测轴承套圈试样的表面。

优选地,所述主电机的输出端的转速可调节。通过调节主电机的输出端的转速,即可调节待测轴承套圈试样的转速。

优选地,所述机架上还设有控制面板,所述控制面板分别与主电机、升降电机和超声波探头电连接。通过控制面板可以控制控制面板分别与主电机、升降电机和超声波探头。

优选地,所述机架上还设有波形显示屏,所述波形显示屏与超声波探头电连接。波形显示屏可以显示出超声波探头探测到的待测轴承套圈试样外表面的波形情况。

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