[发明专利]一种用于微控制器参数校准的烧录器及烧录方法

说明书

本发明涉及一种用于微控制器参数校准的烧录器及烧录方法，包括在线模式和离线模式，其中在线模式，PC端开启烧录器校准功能，将校准标准值和烧录数据发送给烧录器，烧录器将数据存储到flash中，当PC端下发烧录指令后，烧录器主控芯片从flash读取数据，对外接MCU进行烧录，同时会对频率和基准电压进行校准，并将校准结果写入MCU信息区；离线模式，需要预先将校准标称值和烧录数据下载到烧录器flash中，只要给烧录器供电，通过按键即可对外接MCU进行烧录，同时会对频率和基准电压进行校准，并将校准结果写入MCU信息区。与现有技术相比，本发明具有提供更高的校准精度、缩短开发生产周期等优点。

技术领域

本发明涉及一种用于微控制器的烧录技术，尤其是涉及一种用于微控制器参数校准的烧录器及烧录方法。

背景技术

微控制器(MCU)芯片从生产到制成成品销售需要经过以下几个环节，一、晶圆制造(Wafer Fab)。二、晶圆测试(Wafer Probe)。三、封装和封装测试(Assembly&Test)。

在Wafer Probe阶段，需要对芯片的管脚开短路、低功耗、频率和基准电压等参数进行测试，剔除其中的不良品。

在Assembly&Test阶段，需要对芯片的频率和基准电压参数再次进行测试，调修到标准范围内，将参数写入芯片的信息区，这样才能保证芯片正常使用。在该阶段对芯片频率和基准电压参数进行校准有以下缺陷，

测试精度和良率不理想：受测试机性能限制，无法将参数调修到最优值，测试精度差强人意。同时由于这种测试方式，导致芯片良率降低。

客户端使用存在限制：客户端出于成本考虑，会使用COB绑定，则原厂提供晶圆给客户，客户需要自己去校准参数。或者客户由于方案限制，需要修改芯片频率、基准电压参数。

在这种情况下，无法返厂重新调整参数。只能通过其他途径修改参数，为客户生产开发带来极大的不便。

发明内容

本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种可以提供更高的校准精度的用于微控制器参数校准的烧录器及烧录方法。

本发明的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种用于微控制器参数校准的烧录器，该烧录器分别与PC和微控制器MCU连接，所述的烧录器包括主控芯片、第一通信电路、第二通信电路、D触发器、存储器、基准电压输入接口、参考电源和LDO电源，所述的主控芯片分别与第一通信电路、第二通信电路、D触发器、存储器、基准电压输入接口、参考电源和LDO电源连接，所述的第一通信电路与PC连接，所述的第二通信电路、D触发器和基准电压输入接口分别与微控制器MCU连接。

优选地，所述的第一通信电路为USB Type-B数据线。

优选地，所述的存储器为flash存储器。

优选地，所述的参考电源为TL431基准电源。

优选地，所述的烧录器还包括与主控芯片连接的LED指示灯。

一种采用所述的用于微控制器参数校准的烧录器的校准方法，包括在线模式和离线模式，

其中在线模式，PC端开启烧录器校准功能，将校准标准值和烧录数据发送给烧录器，烧录器将数据存储到flash中，当PC端下发烧录指令后，烧录器主控芯片从flash读取数据，对外接MCU进行烧录，同时会对频率和基准电压进行校准，并将校准结果写入MCU信息区；

离线模式，需要预先将校准标称值和烧录数据下载到烧录器flash中，只要给烧录器供电，通过按键即可对外接MCU进行烧录，同时会对频率和基准电压进行校准，并将校准结果写入MCU信息区。

优选地，所述的方法具体包括：