[发明专利]一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置有效

专利信息
申请号: 201910927740.2 申请日: 2019-09-27
公开(公告)号: CN110487405B 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 孙慈;崔继承;姚雪峰;杨晋;冯树龙;宋楠;王明佳;李天骄 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 孙晓红
地址: 130033 吉林省长春市*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 推扫式 成像 光谱仪 几何 定标 装置
【权利要求书】:

1.一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置,其特征在于,包括光源系统(1)、狭缝微动系统(2)、准直系统(3)和摆镜系统(4),其中:

所述狭缝微动系统(2)设于所述光源系统(1)和所述准直系统(3)之间,所述光源系统(1)用以发出连续光至所述狭缝微动系统(2),所述狭缝微动系统(2)用以调节进入所述准直系统(3)的光线的入射角度,所述准直系统(3)用以将经所述狭缝微动系统(2)调节的光线转变为准直光线射入所述摆镜系统(4),所述摆镜系统(4)用以调节进入待定标成像光谱仪的探测器的光线的入射角度。

2.根据权利要求1所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置,其特征在于,所述光源系统(1)包括:

光源;

用以放置所述光源的光源座(11);

还包括:第一平面镜(12)、第一球面镜(13)和出射狭缝,其中:

所述第一平面镜(12)用以将所述光源发出的连续光反射至所述第一球面镜(13);

所述第一球面镜(13)用以将经所述第一平面镜(12)反射的光线会聚并转射至所述出射狭缝;

所述出射狭缝用以将经所述第一球面镜(13)会聚的光线射出至所述狭缝微动系统(2)。

3.根据权利要求2所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置,其特征在于,所述狭缝微动系统(2)包括:

与所述出射狭缝垂直设置的微动狭缝(25),所述微动狭缝(25)竖直设置;

用以固定安装所述微动狭缝(25)并能够带动所述微动狭缝(25)以预设方向运动的挡板(24);

设有转轴(23)的第一电机(21);

与所述转轴(23)配合连接并能够推动所述挡板(24)沿垂直于所述转轴(23)的轴向运动的楔形滑块(22);

所述第一电机(21)用以驱动所述转轴(23)、以供所述楔形滑块(22)沿所述转轴(23)的轴向运动。

4.根据权利要求3所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置,其特征在于,所述准直系统(3)包括第二球面镜(32)和第二平面镜(31);

所述第二球面镜(32)用以会聚从所述微动狭缝(25)中射出的光线并将其转射至所述第二平面镜(31);

所述第二平面镜(31)用以反射来自所述第二球面镜(32)的光线、以供光线沿竖向射入所述摆镜系统(4)。

5.根据权利要求3所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置,其特征在于,所述楔形滑块(22)与所述转轴(23)通过螺纹配合连接。

6.根据权利要求4所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置,其特征在于,所述摆镜系统(4)包括:

第三平面镜(42),所述第三平面镜(42)用以将经所述第二平面镜(31)反射的准直光线反射至待定标成像光谱仪的探测器上;

角度位移机构,所述角度位移机构用以固定安装所述第三平面镜(42)并能够带动所述第三平面镜(42)摆动;

直线位移机构,所述直线位移机构用以固定所述角度位移机构并能够带动所述角度位移机构沿直线方向移动。

7.根据权利要求6所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置,其特征在于,所述角度位移机构包括:

用以带动所述第三平面镜(42)以预设方向摆动的角度位移台(43);

与所述角度位移台(43)连接、用以驱动所述角度位移台(43)运转的第二电机;

所述第三平面镜(42)通过转接台(45)固接于所述角度位移台(43)上。

8.根据权利要求7所述的推扫式成像光谱仪的几何定标装置,其特征在于,所述直线位移机构包括:

设有滑块的直线导轨(46),所述角度位移台(43)通过转接板(44)固定连接于所述滑块上,所述滑块能够带动所述角度位移台(43)沿所述直线导轨(46)运行;

与所述滑块相连、用以驱动所述滑块沿所述直线导轨(46)运行的第三电机(41)。

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