[发明专利]三维深度数据的置信度评估方法、装置和计算机设备有效

专利信息
申请号: 201910927230.5 申请日: 2019-09-27
公开(公告)号: CN110675440B 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: 陈海龙;杨洋;刘梦龙;刘晓利 申请(专利权)人: 深圳市易尚展示股份有限公司
主分类号: G06T7/521 分类号: G06T7/521;G01B11/25
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 于丽君
地址: 518101 广东省深圳市宝安区新安*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 三维 深度 数据 置信 评估 方法 装置 计算机 设备
【权利要求书】:

1.一种三维深度数据的置信度评估方法,所述方法包括:

在通过条纹投影结构光三维成像系统确定物体表面匹配的目标点的过程中,得到点云置信度的影响因素;所述影响因素,包括调制度,被测物表面反射率跳变,被测物体表面与条纹投影结构光三维成像系统的偏转程度,条纹投影结构光三维成像系统的有效测量空间范围中的至少一个;

建立各个影响因素与点云置信度之间的关系,根据所述各个影响因素与点云置信度之间的关系,得出各个影响因素对点云置信度的影响程度;

根据所述各个影响因素对点云置信度的影响程度,对各个影响因素赋予不同的影响权重,建立各个影响因素的综合结果与点云置信度间的关系;

根据所述各个影响因素的综合结果与点云置信度间的关系,得出点云的置信度;

根据所述点云的置信度,对点云的质量进行评估,得到点云质量评估结果;

其中,所述建立各个影响因素与点云置信度之间的关系,根据所述各个影响因素与点云置信度之间的关系,得出各个影响因素对点云置信度的影响程度包括:

根据调制度值和点云的质量,运用高斯核函数,建立调制度值和点云置信度之间的关系;

根据所述调制度值和点云置信度之间的关系,得出调制度对点云置信度的影响程度。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在通过条纹投影结构光三维成像系统确定物体表面匹配的目标点的过程中,得到点云置信度的影响因素包括:

获取标准正弦条纹图像,并投射到所述条纹投影结构光三维成像系统中的物体表面,获取所述物体表面的投影图像得到所述标准正弦条纹图像所对应的变形条纹图像,所述物体表面的投影图像的获取结果受条纹投影结构光三维成像系统中的有效测量空间范围的影响;

运用相移法,计算所述变形条纹图像的相位,所述相位的计算结果受到调制度的影响;

所述调制度受到被测物体表面反射率变化的影响;

根据所述相位确定对应的相位信息,根据所述相位信息和几何关系确定所述物体表面上的点在所述条纹投影结构光三维成像系统中的第一相机的成像面上的第一对应点和第二相机的成像面上的第二对应点;

根据所述第一对应点与第一相机的中心点连接的直线和所述第二对应点与第二相机的中心点连接的直线,确定两条直线的交点,所述两条直线的交点为物体表面匹配的目标点;

所述目标点的确定过程受被测物体表面与条纹投影结构光三维成像系统的偏转程度影响,所述被测物体表面与条纹投影结构光三维成像系统的偏转程度为所述目标点的法向与所述两条直线的角平分线之间的夹角。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述条纹投影结构光三维成像系统包括一个投影机和两个相机。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述建立各个影响因素与点云置信度之间的关系,根据所述各个影响因素与点云置信度之间的关系,得出各个影响因素对点云置信度的影响程度包括:

根据被测物体表面反射率变化处的调制度差异值和点云的质量,运用高斯核函数,建立被测物体表面反射率的变化与点云置信度之间的关系;

根据所述被测物体表面反射率的变化与点云置信度之间的关系,得出被测物体表面反射率的变化对点云置信度的影响程度。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述建立各个影响因素与点云置信度之间的关系,根据所述各个影响因素与点云置信度之间的关系,得出各个影响因素对点云置信度的影响程度包括:

根据被测物体表面与条纹投影结构光三维成像系统的偏转程度和点云的质量,运用高斯核函数,建立被测物体表面与条纹投影结构光三维成像系统的偏转程度与点云置信度之间的关系;

根据所述被测物体表面与条纹投影结构光三维成像系统的偏转程度与点云置信度之间的关系,得出被测物体表面与条纹投影结构光三维成像系统的偏转程度对点云置信度的影响程度。

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