[发明专利]一种高精度表面形貌测量机的传感器灵敏度测量方法在审
申请号: | 201910926034.6 | 申请日: | 2019-09-27 |
公开(公告)号: | CN110617779A | 公开(公告)日: | 2019-12-27 |
发明(设计)人: | 陈梅云;陈锦标;黄建平;余浩燃;林常青;辜晓波;谢胜利 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 44329 广东广信君达律师事务所 | 代理人: | 江金城 |
地址: | 510062 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 传感器灵敏度 抗干扰能力 灵敏度 形貌 光学测量系统 曲率半径计算 测量传感器 高精度表面 角度传感器 灵敏度测量 透镜光路 形貌测量 准直光束 非球面 推导 反射 耗时 | ||
本发明公开了一种高精度表面形貌测量机的传感器灵敏度测量方法,该测量方法利用准直光束经过非球面反射到透镜光路的原理,推导出利用曲率半径计算灵敏度的公式并实现测量传感器的灵敏度。本方案鉴于现有复光束角度传感器灵敏度测量方法出现的步骤繁琐,精确度低,抗干扰能力差等问题,提供一种操作简单,耗时短,抗干扰能力强的传感器灵敏度测量方法对MBAS进行精确测量,使其精度可以达到理论精度,提高形貌光学测量系统的可靠性和精确性。
技术领域
本发明涉及光学检测技术领域,尤其涉及一种高精度表面形貌测量机的传感器灵敏度测量方法。
背景技术
随着微系统制造的小型化和模块化的发展,人们对提高高精度小尺寸产品制造效率的需求也急剧增加。人们对于机械产品或者各类工业产品的表面轮廓、表面质量、尺寸、粗糙度等的要求越来越高,要求测量仪器的精度要求也越来越高。
高精密表面形貌光学测量系统,即复光束角度传感器(Mult-beam angle sensor,以下简称MBAS)的出现克服了传统测量技术精度低,效率低等问题,其理论精度可以达到很高,但在实际应用中并无法达到理论的精度,这源于其灵敏度的检测精度达不到理论要求,而传统的测量方式已无法适合复光束传感器,现有的检测方案也存在诸多问题,如测量板四点测量,其方法步骤繁琐,且测量板的角度问题会造成误差,四个标志点范围之外的点也存在较大误差;比较常用的整体法测量微透镜阵列误差对透镜个体差别无法测量,易引起的图像畸变和局部降质。
因此,现有技术需要进一步改进和完善。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种高精度表面形貌测量机的传感器灵敏度测量方法。
本发明的目的通过下述技术方案实现:
一种高精度表面形貌测量机的传感器灵敏度测量方法,该测量方法主要包括如下具体步骤:
步骤S1:激光束经曲率半径为R的非球面反射,其中入射光与反射光之间的夹角为2α,再由焦距为f的透镜聚焦。设透镜的点阵间距为d,透镜与非球面之间的距离为k,两个透镜接触点切平面到入射光与非球面交点位置的距离为c。
步骤S2:入射角α可用透镜间距d和曲率半径R表示为:
步骤S3:根据光学不变量,由几何关系可得透镜间距d为:
步骤S4:由等式(1)和(2)可得两个透镜接触点切平面到入射光与非球面交点位置的距离c为:
步骤S5:由几何关系可得光斑中点A和光斑中点B之间的间距dRAB为:
步骤S6:由方程(3)和(4)可得出透镜间距d和光斑间距dRAB之差ΔdAB为:
步骤S7:由方程(5)可得:
步骤S8:式中,WAB为MBAS在点A和点B之间的灵敏度;可采用两种独立的计算方法计算灵敏度,具体公式描述如下:
WAB=(fA+fB)d (7)
WAB=(R+2k)ΔdAB (8)。
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