[发明专利]一种晶圆的处理方法和处理装置在审
申请号: | 201910924982.6 | 申请日: | 2019-09-27 |
公开(公告)号: | CN110571137A | 公开(公告)日: | 2019-12-13 |
发明(设计)人: | 白宗权 | 申请(专利权)人: | 西安奕斯伟硅片技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/67 |
代理公司: | 11243 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 许静;胡影 |
地址: | 710065 陕西省西安市*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 晶圆 运输盒 装入 清洗 晶圆表面 晶圆抛光 处理装置 浆料沉积 交叉污染 污染问题 种晶 污染物 污染 | ||
本发明提供一种晶圆的处理方法和处理装置,处理方法包括以下步骤:晶圆抛光之后,在晶圆装入晶圆运输盒之前,清洗晶圆。根据本发明实施例的晶圆的处理方法,晶圆抛光之后,在晶圆装入晶圆运输盒之前清洗所述晶圆,避免了由于不能及时清洗晶圆表面,晶圆装入晶圆运输盒中时容易造成浆料沉积在晶圆表面的问题,避免杂质含量不同的晶圆之间交叉污染,同时避免晶圆背面的污染物会污染晶圆的正面,避免晶圆转移过程中的污染问题,提高晶圆的加工处理质量。
技术领域
本发明涉及晶圆加工领域,具体涉及一种晶圆的处理方法和处理装置。
背景技术
现阶段,在精抛光完成后,硅片表面残留许多污染物,如抛光液、颗粒和表面金属等,通常在精抛光阶段,完成多次抛光后的硅片会直接转移至片盒中,卸载区的片盒,可以容纳多片硅片(目前通常为13片或者25片两种规格),在加工过程中,需要等待片盒装满硅片后,才通过卡车将片盒运送到后续工艺段,这种方式不能及时清洗硅片表面,容易造成浆料沉积在硅片表面,从第1片硅片到装满片盒的等待过程中,除了杂质含量不同的硅片之间会交叉污染,同时硅片背面的污染物会污染硅片的正面等问题,从而硅片表面污染加剧。
发明内容
有鉴于此,本发明提供一种晶圆的处理方法和处理装置,用以解决由于不能及时清洗晶圆表面,晶圆装入晶圆运输盒中时容易造成浆料沉积在晶圆表面的问题,杂质含量不同的晶圆之间交叉污染的问题。
为解决上述技术问题,本发明采用以下技术方案:
根据本发明第一方面实施例的晶圆的处理方法,包括以下步骤:
晶圆抛光之后,在晶圆装入晶圆运输盒之前,清洗所述晶圆。
其中,所述处理方法还包括:
清洗所述晶圆之前,对所述晶圆抛光至少一次。
其中,清洗所述晶圆包括:
将晶圆的边缘置于驱动轮上的导向槽中以通过所述驱动轮驱动所述晶圆旋转;
分别向所述晶圆的上表面的中心和下表面的中心喷洒清洗液。
其中,所述清洗液中包括氟化氢和/或表面活性剂。
其中,在清洗所述晶圆之后,还包括:
将所述晶圆装入晶圆运输盒中。
其中,所述晶圆运输盒中充有含氧化性组分的气体以氧化所述晶圆的表面。
根据本发明第二方面实施例的晶圆处理装置包括:
承载结构,用于承载待处理的晶圆;
抛光结构,用于抛光所述晶圆;
清洗结构,用于在所述晶圆装入晶圆运输盒之前清洗抛光后的所述晶圆。
其中,所述清洗结构包括:
驱动轮,所述驱动轮上形成有沿其周向延伸的导向槽,所述晶圆的边缘能够置于所述导向槽中以使所述驱动轮驱动所述晶圆旋转;
喷洒结构,用于分别向所述晶圆的上表面的中心和下表面的中心喷洒清洗液。
其中,所述清洗结构包括:
多个所述驱动轮,所述晶圆的边缘能够分别置于所述驱动轮的所述导向槽中;
至少两个所述喷洒结构,所述晶圆的上方设有至少一个所述喷洒结构以向所述晶圆的上表面的中心喷洒清洗液,所述晶圆的下方设有至少一个所述喷洒结构以向所述晶圆的下表面的中心喷洒清洗液。
其中,所述处理装置还包括:
机械臂,用于在所述承载结构、所述清洗结构和所述晶圆运输盒上装载或卸载晶圆。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安奕斯伟硅片技术有限公司,未经西安奕斯伟硅片技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910924982.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造