[发明专利]分散式存储环境在审
申请号: | 201910924768.0 | 申请日: | 2019-09-27 |
公开(公告)号: | CN111352745A | 公开(公告)日: | 2020-06-30 |
发明(设计)人: | 埃迪·韦恩·周 | 申请(专利权)人: | 爱德万测试公司 |
主分类号: | G06F9/54 | 分类号: | G06F9/54;G06F9/50;G06F11/36 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 邓素敏 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分散 存储 环境 | ||
本公开涉及分散式存储环境。一种用于控制分散式存储环境中的设备的方法,该方法包括:将网络中的多个设备划分为多个超级小区,其中,每个超级小区包括多个设备的子集。对于每个超级小区,系统控制器被配置为将超级小区中的设备指定为核心设备,其中,超级小区中的核心设备控制超级小区中的成员设备。系统控制器还被配置为将与特定任务相关联的命令发送到核心设备,并且从核心设备接收关于特定任务的执行的信息,其中,该信息包括从超级小区的成员设备所聚集的、与特定任务的相应部分的执行相关联的信息。
技术领域
本公开总体涉及自动化测试设备领域,并且更具体地涉及控制这种设备的技术。
背景技术
自动化测试设备(ATE)可以是在半导体晶圆或晶片、集成电路(IC)、电路板或封装器件(例如,固态驱动器(SSD))上执行测试的任意测试组件。ATE组件可以被用于执行自动化测试,该自动化测试快速地执行测量并且生成随后可以被分析的测试结果。ATE组件可以是从耦合到仪表的计算机系统到复杂的自动化测试组件的任意组件,该复杂的自动化测试组件可以包括定制的专用计算机控制系统和能够自动测试电子部件和/或进行半导体晶圆测试(例如,片上系统(SOC)测试或集成电路测试)的许多不同的测试仪器。ATE系统减少了在测试器件上所花费的时间量,以确保器件按照设计的那样工作,并且ATE系统用作诊断工具,以在给定器件到达消费者之前确定给定器件内故障组件的存在。
ATE系统通常包括指导ATE系统的操作的计算机或系统控制器设备。通常,计算机运行一个或多个专用软件程序以提供(i)测试开发环境和(ii)设备测试环境。在测试开发环境中,用户通常创建测试程序,例如控制ATE系统的各个部分的一个或多个文件的基于软件的构造。在设备测试环境中,用户通常向ATE系统提供一个或多个用于测试的设备,并且指导系统控制器根据测试程序来测试每个设备。用户可以通过以下方式来测试附加设备:简单地将附加设备提供给ATE系统,并且指导ATE系统根据测试程序来测试附加设备。因此,ATE系统使得用户能够基于测试程序以一致且自动的方式来测试许多设备。
当前,如果在ATE系统中测试SSD存储设备的集合或阵列,则使用从系统控制器到设备的单独的通信信道来与每个存储设备进行通信。这产生了需要通过耦合到系统控制器的主通信信道的大量业务。通常,这可以是某种PCIE主干。这可能在系统控制器处的主通信连接处产生瓶颈。此外,如果系统控制器需要向集合中的每个单独设备发送相同的命令(以便使集合重新适应(re-purpose)、建立加密、重置设备等),则当命令和数据被复制并且从系统控制器通传到每个设备时,通信机制变得低效。这种拓扑变得非常低效,并且产生了信道瓶颈问题,从而使整体系统性能和效率降低。
在具有集中式控制系统的企业或其他类型的基于云的存储系统中也会出现类似的问题。自从流服务、云存储服务、社交网络等出现以来,针对云计算的市场已经显著增加。数据被存储在数据中心中,数据中心包括用于存储、处理或分发大量数据的大量网络服务器。使用互连的硬盘驱动器的阵列将数据存储在云计算系统中。当前在工业中使用的用于硬盘驱动器的典型存储协议是NVMe、SAS和SATA。集中式控制的云计算系统的一个问题在于,与配置和控制设备相关的业务需要和与所存储的数据相关的业务一起在带内通信。通常,控制服务器将需要能够与基于云的系统中的每个设备进行通信,以便配置和控制设备。这导致由于开销而导致的数据带宽减小。
此外,与传统云计算系统相关联的另一挑战在于如果云计算系统内的设备或硬盘驱动器发生故障或正在进行维护,则关于维护或故障的信息通常不会被及时地传达给控制服务器。可选地,控制服务器可能没有足够的资源来及时地响应每一个正在进行维护或发生故障的设备。这使得传统的云计算系统不太可靠。
发明内容
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