[发明专利]一种低光衰钝化接触太阳能电池的制备方法有效
| 申请号: | 201910920588.5 | 申请日: | 2019-09-26 |
| 公开(公告)号: | CN110634995B | 公开(公告)日: | 2022-03-04 |
| 发明(设计)人: | 钱洪强;魏青竹;倪志春;鲁科;张树德;李跃 | 申请(专利权)人: | 苏州腾晖光伏技术有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/67;H01L31/0288 |
| 代理公司: | 苏州华博知识产权代理有限公司 32232 | 代理人: | 黄丽莉 |
| 地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 低光衰 钝化 接触 太阳能电池 制备 方法 | ||
1.一种低光衰钝化接触太阳能电池的制备方法,其特征在于,在电池形成PN结或PP+的高低结过程中,采用镓源、铝源、铟源或铊源进行高温扩散、离子注入或原位掺杂,在P型钝化接触电池中的p型多晶硅层中的掺杂控制,先在850℃-1000℃的高温环境下,在掺镓P型单晶硅沉积的多晶硅表面进行掺杂,掺杂源为镓源、铝源、铟源或铊源;后在750℃-900℃的中温环境下,在掺镓P型单晶硅沉积的多晶硅表面的对面进行N型掺杂,掺杂源为磷源,具体包括以下步骤:
1)对掺镓P型单晶硅进行制绒清洗,然后进行单面表面处理;
2)在处理后的表面沉积氧化硅层;
3)在氧化硅层表面沉积多晶硅;
4)使用镓的离子注入或管式高温扩散方法在多晶硅中形成P型掺杂硅薄膜;
5)清洗掺镓P型单晶硅背表面富含镓的疏松氧化硅并去除,然后使用低压化学气相沉积法在掺杂多晶硅背面沉积第一钝化膜;
6)清洗钝化接触层形成过程中的绕镀并去除,随后在750℃-900℃温度环境下在掺杂P型硅正面进行N型掺杂;
7)然后进行清洗去除富含磷的疏松氧化硅;
8)最后在掺杂P型硅正面沉积第二钝化膜并进行金属化。
2.根据权利要求1所述的低光衰钝化接触太阳能电池的制备方法,其特征在于,步骤1)中单面表面处理是通过酸或碱形成平整结构。
3.根据权利要求1所述的低光衰钝化接触太阳能电池的制备方法,其特征在于,步骤2)通过低压化学气相沉积、等离子体增强化学气相沉积、高温HNO3处理、紫外或O3方法在处理后的表面沉积氧化硅层。
4.根据权利要求3所述的低光衰钝化接触太阳能电池的制备方法,其特征在于,所述氧化硅层为0.2nm-2nm,所述高温HNO3处理的高温处理温度为50℃-150℃。
5.根据权利要求1所述的低光衰钝化接触太阳能电池的制备方法,其特征在于,步骤3)多晶硅为50nm-500nm。
6.根据权利要求1所述的低光衰钝化接触太阳能电池的制备方法,其特征在于,步骤5)的第一钝化膜为氮化硅、氧化硅和氮化硅的叠层或氧化铝和氮化硅叠层中的任一种。
7.根据权利要求1所述的低光衰钝化接触太阳能电池的制备方法,其特征在于,步骤6)通过磷的离子注入方法或管式高温扩散方法在750℃-900℃温度环境下在掺杂P型硅正面进行N型掺杂。
8.根据权利要求1所述的低光衰钝化接触太阳能电池的制备方法,其特征在于,步骤8)的第二钝化膜为氮化硅或氧化硅和氮化硅的叠层。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州腾晖光伏技术有限公司,未经苏州腾晖光伏技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910920588.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





