[发明专利]一种平面碲镉汞雪崩二极管探测器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910919549.3 申请日: 2019-09-26
公开(公告)号: CN110660878B 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 张智超;喻松林;张轶 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十一研究所
主分类号: H01L31/107 分类号: H01L31/107;H01L31/18
代理公司: 工业和信息化部电子专利中心 11010 代理人: 吴淑艳
地址: 100015*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 平面 碲镉汞 雪崩 二极管 探测器 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种平面碲镉汞雪崩二极管探测器制备方法,其特征在于,包括:

在碲镉汞表面沉积钝化层;

通过常规掺杂对碲镉汞进行P型掺杂;

通过常规掺杂在P型碲镉汞材料上进行N型掺杂,形成N+中心区,高掺杂N+保护环和低掺杂N-区,所述N+中心区和所述高掺杂N+保护环均位于所述低掺杂N-区内,且所述高掺杂N+保护环外套于所述N+中心区;

所述高掺杂N+保护环与所述N+中心区间隔设置;

生成穿透钝化层的位于高掺杂N+中心区和碲镉汞P型掺杂区的光敏元电极接触孔和公共电极接触孔;

在电极接触孔形成光敏元电极和公共电极。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述高掺杂N+保护环由至少一层保护环构成。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述高掺杂N+保护环由1~4层保护环构成。

4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,相邻两层高掺杂N+保护环之间的间距为2~8μm。

5.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,最内层高掺杂N+保护环与碲镉汞高掺杂N+中心区的间距为2~8μm。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在碲镉汞表面沉积钝化层,具体包括:

在碲镉汞表面沉积碲化镉钝化层;或者

在碲镉汞表面依次沉积碲化镉和硫化锌构成钝化层。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述碲化镉厚度为30~500nm,所述硫化锌厚度为0~500nm。

8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在电极接触孔形成光敏元电极和公共电极,具体包括:

在电极接触孔依次生长铬层和第一金层,形成光敏元电极和公共电极;或者

在电极接触孔依次生长铬层、第一金层、铂层和第二金层,形成光敏元电极和公共电极。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述铬层厚度为10~200nm,所述第一金层厚度为50~500nm,所述铂层厚度为0~500nm,所述金层厚度为0~300nm。

10.一种平面碲镉汞雪崩二极管探测器,其特征在于,所述平面碲镉汞雪崩二极管探测器为利用权利要求1~9任一方法制备的。

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