[发明专利]玉米籽粒双表面高光谱检测装置

说明书

本发明涉及高光谱无损检测技术领域，公开了一种玉米籽粒双表面高光谱检测装置，包括支撑件、外转动件、内转动件和高光谱采集单元。外转动件可转动安装于支撑件顶部，内转动件可转动安装于外转动件，内转动件与外转动件的转动轴线相重合，外转动件带动内转动件转动。本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置，外转动件的第一挡板和第二挡板不但为玉米种子籽粒提供了两个表面检测的检测位，而且形成内转动件的转动空间，既能推动内转动件转动，又对内转动件的转动形成约束，以完成玉米种子籽粒的翻面。从而能够通过高光谱采集单元获取玉米籽粒包括胚面和非胚面两个表面的高光谱信息，更加准确反映出整粒玉米种子的真实情况。

技术领域

本发明涉及高光谱无损检测技术领域，特别是涉及一种玉米籽粒双表面高光谱检测装置。

背景技术

高光谱图像是一个三维数据立方体，数据融合了成像技术和光谱技术的优点，将图像信息和光谱信息合二为一，在分析时既可以对某一区域进行光谱分析，又可以获取某一特征波段下的图像信息。高光谱技术能够对样本进行快速、无损检测，是农产品安全检测领域重要的检测手段之一。

玉米作物我国三大粮食作物之一，其产量影响着我国农业的发展和社会的稳定，而玉米种子质量对实现玉米增产目标至关重要。近年来，高光谱检测技术已被应用于各类谷物种子的品质安全检测中，检测对象包括化学成分、含水率、损伤、霉变、纯度、净度、生活力、种子活力等。为了提高在线分选的效率，玉米种子多采用漫反射扫描方式获取高光谱信息，这样可以大大缩短样本采集时间。但是常规线扫描方式只能获取玉米种子单表面的高光谱图像，而玉米种子的结构特征明显，胚面和非胚面中胚乳和胚的比例差异显著，获取单表面信息有时无法准确反映出整粒玉米种子的真实情况。

发明内容

本发明实施例提供一种玉米籽粒双表面高光谱检测装置，用以解决现有的玉米籽粒高光谱检测装置只能获取玉米种子单表面的高光谱图像，而玉米种子的结构特征明显，胚面和非胚面中胚乳和胚的比例差异显著，获取单表面信息有时无法准确反映出整粒玉米种子的真实情况的问题。

本发明实施例提供一种玉米籽粒双表面高光谱检测装置，包括支撑件、外转动件、内转动件和高光谱采集单元；

所述外转动件可转动安装于所述支撑件顶部，所述内转动件与所述外转动件为转动轴线重合的转动连接，所述外转动件带动所述内转动件转动；

所述外转动件包括第一挡板和第二挡板，所述第一挡板的一端和所述第二挡板的一端相连接，所述第一挡板和所述第二挡板相连接部位的夹角形成所述内转动件的转动空间，所述第一挡板的另一端设有第一面检测位，所述第二挡板的另一端设有第二面检测位；

所述内转动件设有用于容置待检测玉米种子籽粒的夹籽槽，所述夹籽槽包括第一槽壁和第二槽壁，所述第一槽壁和所述第二槽壁之间的槽宽大于所述籽粒的厚度，且小于所述籽粒的宽度；

所述内转动件在所述转动空间贴合于所述第一挡板一侧时，所述第一槽壁与所述第一面检测位平滑连接；所述内转动件在所述转动空间贴合与所述第二挡板一侧时，所述第二槽壁与所述第二面检测位平滑连接；

所述高光谱采集单元用于检测位于所述第一面检测位的所述籽粒和位于所述第二面检测位的所述籽粒。

本发明实施例提供的玉米籽粒双表面高光谱检测装置，外转动件的第一挡板和第二挡板不但为玉米种子籽粒提供了两个表面检测的检测位，而且通过两个挡板连接夹角形成内转动件的转动空间，既能推动内转动件转动，又对内转动件的转动形成约束，以通过内转动件的转动完成玉米种子籽粒的翻面。从而能够通过高光谱采集单元获取玉米籽粒包括胚面和非胚面两个表面的高光谱信息，以更加准确反映出整粒玉米种子的真实情况。

附图说明