[发明专利]一种电子元器件的测试电路在审
申请号: | 201910915900.1 | 申请日: | 2019-09-26 |
公开(公告)号: | CN110609189A | 公开(公告)日: | 2019-12-24 |
发明(设计)人: | 李猛 | 申请(专利权)人: | 珠海格力电器股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 44438 广州市时代知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 杨树民 |
地址: | 519000*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子元器件 输入端连接 时基电路 输入电路 元器件检测电路 元器件检测 测试电路 输出端 万用表 电子设备检修 输入电压转换 直流电压输出 周期性变化 电器设备 高低电平 快速检测 外部电源 稳定运行 直接测量 元器件 上机 输出 检测 | ||
1.一种电子元器件的测试电路,其特征在于,包括
输入电路:所述输入电路的输入端连接外部电源,将输入电压转换为稳定的直流电压输出;
时基电路:所述时基电路的输入端连接所述输入电路的输出端,输出周期性变化的高低电平;
元器件检测电路:所述元器件检测电路的输入端连接所述时基电路的输出端,包括有至少一个元器件检测模块,每个元器件检测模块用于检测不同的电子元器件。
2.如权利要求1所述的一种电子元器件的测试电路,其特征在于,所述元器件检测电路包括光耦检测模块、继电器检测模块和可控硅检测模块,分别用于检测光耦的质量、继电器的质量和可控硅的质量。
3.如权利要求2所述的一种电子元器件的测试电路,其特征在于,所述光耦检测模块包括六引脚光耦检测模块和八引脚光耦检测模块。
4.如权利要求2所述的一种电子元器件的测试电路,其特征在于,所述继电器检测模块包括电磁继电器检测模块和固态继电器检测模块。
5.如权利要求1所述的一种电子元器件的测试电路,其特征在于,所述每个元器件检测模块都设有独立的显示装置,用于显示被测电子元器件的导通状态。
6.如权利要求5所述的一种电子元器件的测试电路,其特征在于,所述显示装置具体为高亮度发光二极管。
7.如权利要求2所述的一种电子元器件的测试电路,其特征在于,所述继电器检测模块和可控硅检测模块通过交流电检测,也可以通过直流电检测。
8.如权利要求1所述的一种电子元器件的测试电路,其特征在于,所述输入电路包括变压器、整流桥和稳压块;
所述变压器用于将外部电压转换为测试电路所需的电压;所述整流桥的输入端连接所述变压器的副边,当输入电压为交流电时,将输入电压整流为直流电输出;所述稳压块的输入端连接所述整流桥的输出端,输出稳定的直流电。
9.如权利要求1所述的一种电子元器件的测试电路,其特征在于,所述时基电路包括NE555芯片和发光二极管,所述NE555芯片构成多谐振荡器,所述发光二极管连接所述NE555芯片,所述发光二极管根据所述NE55芯片的输出的高电平或低电平而发光或不发光。
10.如权利要求9所述的一种电子元器件的测试电路,当所述NE555芯片输出低电平时,所述发光二极管发光,当所述NE555芯片输出高电平时,所述发光二极管不发光。
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