[发明专利]一种基于JTAG的烧录装置

说明书

本发明公开了一种基于JTAG的烧录装置，包括设置于JTAG主机的TDI端与第一芯片之间、各相邻两个芯片之间的可控开关，还包括设置于各芯片与JTAG主机的TDO端之间的总可控开关模块，JTAG主机根据接收到的烧录指令便可控制相应地的可控开关输入端与其相应输出端连接，还控制总可控开关模块的输出端与其相应输入端连接，可见，本申请仅需搭建一个电路，通过控制相应开关的输入输出端的连接关系便可自动地实现JTAG链路的调整，从而实现对不同芯片或者芯片组合的固件烧录，无需人工手动调节，提高了测试效率，简化了电路结构。

技术领域

本发明涉及JTAG技术领域，特别是涉及一种基于JTAG的烧录装置。

背景技术

JTAG(Joint Test Action Group，联合测试工作组)是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA等器件。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI及TDO，分别对应为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。

JTAG最初是用来对芯片进行测试，其基本原理是在器件内部定义一个TAP(TestAccess Port，测试访问口)，并通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，即前一个JTAG设备的TDO连接到下一个JTAG设备的TDI，形成一个JTAG链，从而实现对各个器件分别进行测试。

如今，JTAG还可以用来对芯片进行固件烧录。具体地，多个JTAG设备串联形成JTAG链，JTAG主机例如BMC(Baseboard Manager Controller，基板管理控制器)通过JTAG链对CPLD、FPGA等芯片(Integrated Circuit集成电路)进行固件烧录。但部分芯片不支持这种串联固件烧录，其JTAG功能必须在与JTAG主机单独连接的情况下使用，使得在对多个芯片进行烧录时，需要搭建多个电路，降低了测试效率，增加了电路复杂性。

发明内容

本发明的目的是提供一种基于JTAG的烧录装置，无需人工手动调节，提高了测试效率，简化了电路结构。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种基于JTAG的烧录装置，包括JTAG主机、N个芯片、总可控开关模块及N个可控开关；

第一可控开关的输入端与所述JTAG主机的TDI端连接，第一输出端与第一芯片的TDI端连接，第二输出端分别与第i至第N芯片的TDI端连接；第i可控开关的输入端与第i-1芯片的TDO端连接，第一输出端与所述总可控开关模块的第i-1输入端连接，第二输出端与第i芯片的TDI端连接；第N芯片的输出端与所述总可控开关模块的第N输入端连接，所述总可控开关模块的输出端与所述JTAG主机的TDO端连接，2≤i≤N；

所述JTAG主机还分别与N个可控开关的控制端及所述总可控开关模块的控制端连接，用于根据烧录指令控制相应可控开关的输入端与其相应输出端连接，及控制所述总可控开关模块的输出端与其相应输入端连接。

优选地，所述总可控开关模块包括总可控开关；

所述第一可控开关的控制端、所述第二可控开关的控制端、…第N可控开关的控制端及所述总可控开关的控制端分别一一对应与所述JTAG主机的N+1个开关控制端连接。

优选地，所述第一可控开关的控制端、所述第二可控开关的控制端、…第N可控开关的控制端分别与所述JTAG主机的N个开关控制端连接；

所述总可控开关模块包括：

包括N个输入端、一个输出端的总可控开关；

输入端分别与所述JTAG主机的N个开关控制端连接、输出端与所述总可控开关的控制端连接的转换模块，用于根据所述JTAG主机输出的控制电平生成相应地控制指令，以控制所述总可控开关的输出端与其相应输入端连接。